CP-305-分析天平的校验规程(修订3).docVIP

标准操作类文件（SOP） 主题 分析天平的校验规程 修订号： 3 编号： CP-305 起草者： 复核者： 审核者： 第 4 版 批准者： 执行日期： 页号： PAGE 3 OF 5 1.0目的 建立并规范电子分析天平内部校验规程，保证实验室使用的称量点称量的准确性。 2.0范围 本规程适用于QC用于质量控制的电子分析天平。 3.0责任 QC部门天平的使用者按本规程对电子分析天平进行校验。 4.0程序 校验前准备 4.1.1 校验人员检查天平是否水平，否则要先调整至水平。 4.1.2 分析天平在开机稳定30分钟以后，在样品称量前每天需要对天平进行自校，并填写天平校验记录。每天用的标准砝码校验，应是由计量部门检定合格，每年需要进行检定，必须在有效期内使用，使用前应进行检查。每年根据砝码检定后的实际值修订可接受范围。砝码应仔细保存，使用时必须使用软质的镊子夹取。 在校验前不应进行任何称量，对于电子天平应在天平预热过程执行完毕后方可进行。 天平的内部自校：每天使用前，要对电子天平进行内部自校。 Sartorioas BP210S与BP211D型天平自校程序为：接通电源，当显示为0.0000g 时，用CAL键启动校正程序：如果显示Err02，证明在校验过程发现故障，按TARE清零后重新按CAL