el跟踪测试汇总报告.pptxVIP

一. 实验目的 二. 实验步骤 三. 数据汇总 四. 裂纹组件EL图举例 五. 各工序产生裂纹分布图 六. 各工序产生裂纹原因初步分析和改善建议 七. 结论 ;目的：通过对同一批组件在生产线各个工序时的EL测试，找出导致组件裂纹产生的主要工序，以便针对性的找出降低组件裂纹率的办法。;我们分别对跟踪组件在层压前、层压后、总装后、和包装前进行EL测试 ，示意图如下。;实验从2009.12.2日起至2009.12.26日结束，共跟踪了949Pcs组件，其中裂纹 组件共71Pcs.总裂纹比率为7.48%. ;具体各个工序产生裂纹比率如下图所示。;数据汇总;数据汇总;裂纹举例;下面是各工序产生的裂纹分布情况。 层压前共产生裂纹组件10Pcs ,产生裂纹比率为1.05%,其中裂纹电池片10片。下图是层压前的组件裂纹分布，从图中我们可以看出，裂纹主要分布在组件中间电池片位置。;;总装产生裂纹组件47Pcs, 产生裂纹比率为4.95％，其中裂纹电池片74片， 下图是总装后的组件裂纹分布图，图中表现出来的裂纹多且分布广，但靠近接线盒的第二列位置电池片裂纹特别严重，尤其是2*3、2*4和2*5位置的电池片，多次反复出现裂纹。;图4; 从我们跟踪的组件裂纹比率来看，组件的裂纹情况比较的严重，从各工序增加裂纹的统计表中可以看出，总装工序产生的裂纹最为严重，占了总裂纹组件数量的65.21％。 从电池片的厂家类别来看，单晶电池片组件的裂纹依然偏高于多晶电池片，而多晶电池片中，CSI电池片组件裂纹率仍然较高。 从裂纹电池片的分布情况来看，各个工序的裂纹分布情况，分别反映了目前各自工序中导致组件裂纹产生的一些问题，有抬动时组件的弯曲问题，有操作方面问题，机器设置合理性问题等等。 ;1.层压前工序 分析：层压前工序主要有单焊，串焊，层压准备，和目测检验工序，从组件电池片产生裂纹的分布来看，主要集中在组件中部电池片位置，分析为与抬动组件时组件中间部分弯曲有关。 建议：目前是大约两台层压准备桌对应一台目测架，忙的时候由于来不及目测，层压准备人员将来不及目测的先放置在放置架上，目测人员再从放置架上抬出进行目测，建议再增加目测架，达到一台层压准备桌对应一台目测架，这样就可以将来不及目测的组件先放在空着的目测架上，而目测人员看完后可以直接进行再次目测，而不必再从放置架上抬出进行目测。如下图所示，图5为目前层压前组件目测前后的搬运路线，图6为建议改动增加后。比较明显，改动后的搬运距离减少，避免了来回搬运，相应的也会减少组件由于搬运产生裂纹的几率。;分析建议;分析及改善建议;2）.总装后的放置桌安装的缓冲泡沫问题。目前放置工作台上的泡沫都采用两边突出式，这样装完框的组件放置在桌子上时受力比较集中，突出位置易产生裂纹，甚至有的两边的泡沫高低不一，放置在上面的组件有一边悬空现象。;2.包装前工序 分析：包装前工序主要有电性能测试、和清洗工序，从统计的跟踪数据来看，包装前工序产生的组件裂纹为0.84％，在跟踪的几个工序中较低，从产生的裂纹分布图上看，裂纹少，但分布较为有规律，在组件中心位置的两侧电池片上。 从现场观察发现，组件在清洗工序时，极少数员工在清洗组件时有趴在组件上的现象。 ;结论;谢谢！