传感器检测工作技术应用第三章测试系统的特性.ppt

未接入电压表测量电路时，电阻R2上的压降为： U0=ER2/(R2＋R1) 　 接入电压表测量电路时，电阻R2上的压降为： 　 U1=ER2Rm/[R1(Rm+R2)+RmR2] 令R1=100K，R2=150K，Rm=150K，E=150V,得:U0=90V，U1=64.3V， 两者误差达28.6%。 若Rm=1M，得:U1=84.9V， 两者误差为5.76%。 负载效应对测量结果的影响是很大的 减小负载效应的措施： 1.提高后续环节(负载)的输入阻抗。　 2.在原来两个相连接的环节中，插入高输入阻抗，低输出阻抗的放大器，以便一方面减小从前一环节吸取的能量，另一方面在承受后一环节（负载）后又能减小电压输出的变化，从而减轻总的负载效应。 　 3.使用反馈等测量原理，使后面环节几乎不从前面环节吸取能量。 　　 总之，在组成测量系统时，要充分考虑各组成环节之间连接时的负载效应，尽可能的减小负载效应的影响。 测试系统的抗干扰 测试过程中，除待测量信号外，各种不可见的、随机的信号可能出现在测试系统中。这些信号与有用信号叠加在一起，严重扭曲测量结果。 测试系统的干扰来源： 机械振动或冲击会对测试系统(尤其是传感器)产生严重的干扰； 光线会对测量装置中的半导体元件产生干扰； 温度的变化会导致电路参数和工作点的变化，产生干扰； 电磁的干扰等等。 干扰信号传输途径： 测试系统 信 道 干 扰 电 磁 干 扰 电 源 干 扰 抗干扰措施包括： 良好的屏蔽、正确的接地——去除大部分的电磁波干扰。 使用交流稳压器、隔离稳压器——减小供电电源波动的影响。 信道干扰是测试装置内部的干扰，可以在设计时选用低噪声的元器件，印刷电路板设计时元件合理排放等方式来增强信道的抗干扰性。 本章小结： 1.测试系统的概念（测试系统的基本要求）　　　 2.测试系统的静态特性（特性指标的定义） 3.测试系统的动态特性（重点——特性评定） 4.系统不失真测试的条件 习题与思考题： 求给定正弦输入下系统的输出信号。 根据系统的叠加性 * 波音747翼展64.4米，A380翼展79.8米 2）二阶系统 称重(应变片) F 加速度 压电式传感器 幅频、相频曲线 二阶系统伯德图 二阶系统的特性： －低通特性 －频率响应与阻尼比ζ有关 －频率响应与固有频率ω0有关：固有频率越高，保持动态误差在一定范围内的工作频率范围越宽，反之越窄。 对二阶系统通常推荐采用阻尼比ζ＝0.7左右，且可用频率在0～0.6ω0范围内变化，测试系统可获得较好的动态特性，其幅值误差不超过5％，同时相频特性接近于直线，即测试系统的动态特性误差较小。 在动态测试时，必须了解测试系统的可用频率范围——与允许的幅值误差ε和阻尼比ζ有关。 ——允许的幅值误差ε越小，其可用频率范围越窄；反之，其可用频率范围越宽。 ——ζ＝0.7左右时，也有较宽的可用频率范围。 选择、设计测试系统时尤为重要！ 不同阻尼比对可用频率范围的影响 【例1】有一二阶系统，已知其固有频率1000Hz，阻尼比ζ＝0.7，若用它测量频率分别为600Hz和400Hz的正弦信号时，问输出与输入的幅值比和相位差各为多少？ 解：按定义 测量频率为400Hz的信号其幅值误差和相位误差较小 【例2】有两个结构相同的二阶系统，其固有频率相同，但两者阻尼比不同，一个是0.1，另一个是0.65，若允许的幅值误差10％，问它们的可用频率范围是多少？ 解：求二阶系统的可用频率范围，实际上就是求幅频特性曲线与A(ω)＝1±ε两根直线的交点的横坐标。 1）将A(ω)＝1.1和ζ＝0.1代入幅频特性公式，可得 2）将A(ω)＝1.1和ζ＝0.65代入幅频特性公式，方程无实数解，即两者无交点。 3）将A(ω)＝0.9和ζ＝0.1代入公式，得 4）将A(ω)＝0.9和ζ＝0.65代入公式，得 对ζ＝0.1二阶系统，其可用频率范围为0～0.304ω0；对ζ＝0.65二阶系统，可用频率范围为0～0.815ω0 ；可见阻尼比ζ影响二阶系统的可用频率范围。 3、常见测试系统的阶跃响应 阶跃响应简单易行，只需产生一个阶跃信号，再测量系统输出即可。 ——实用（在工程中，对系统的突然加载或者突然卸载都视为对系统施加一阶跃输入 ） 输入x(t)=u(t)，则X(s)=1/s 即输出 Y(s)=H(s)/s y(t) 1）一阶系统 阶跃响应（指数曲线）的变化率取决于时间常数?。 ?越小，响应速度越快，达到稳态的时间越短。 时间常数?越小，动态误差也越小，所以尽可能采用?值小的测试系统。 2）二阶系统 阻尼比ζ不同其阶跃响应不同