超声波横波探伤水平定位 超声波横波探伤深度定位 四、仪器探头试块 1、仪器 按缺陷的显示方式分为A 型B型还有C型,普遍使用A型显示。 仪器上荧光屏横轴表示超声波在工件中传播的时间,纵轴表示反射体反射回来的声压大小,可以比较缺陷的大小。为使进入放大器中的信号在一定范围,仪器上有一衰减器。 目前主要有两类, 早期的是模拟机,现在许多单位有数字机。 仪器显示方式 仪器的主要性能指标(含与探头后): 水平线性 、垂直线性、灵敏度、盲区、始脉冲宽度、分辨力等 四、仪器探头试块 2、探头 根据波型,探头可分为有纵波探头、横波探头、表面波探头、板波探头等。根据波束可以分为聚焦探头与非聚焦探头。根据晶片数可分为单晶片、双晶片。常用的主要是直探头与斜探头 四、仪器探头试块 (1)直探头结构 主要有压电晶片 、保护膜、电缆线、阻尼块、外壳、接头。 阻尼块的作用是:晶片在受激励振荡后立即停下来,使脉冲宽度变小,分辨力提高。吸收背面的杂波,支撑固定晶片。 探头的主要参数有:晶片材料、直径、频率、保护膜如PZT2.5Φ20 四、仪器探头试块 (2)斜探头结构 主要有压电晶片 、斜楔、电缆线、阻尼块、吸声材料、外壳、接头。 斜楔的作用是实现波型转换,使被探工件中只存在折射横波。斜楔的纵波声速必须小于工件中的纵波波速,要耐磨、易加工,对超声波的衰减系数小。 探头的主要参数有: 晶片尺寸、频率、K值 如2.5P
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