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1 1 * 1 1 计数型控制图-NP图 计数型控制图-U图，C图 练习：在芯片的生产过程中，如果芯片上有一个瑕疵，则被认为是一个缺陷，每个班次抽取10个芯片进行检验，记录每个班次的缺陷总数，搜集15个班次数据，做U图，C图。 日期 样品数 缺陷数 1 10 26 2 10 28 3 10 23 4 10 18 5 10 32 6 10 40 7 10 35 8 10 24 9 10 18 10 10 28 11 10 16 12 10 14 13 10 24 14 10 35 15 10 30 计数型控制图-U图 计数型控制图-C图 其他常见的控制图 累积和控制图CUSUM: 以历次观测结果为依据，对观测数据加以累积，对发现过程的小偏移特别有效 。 指数加权移动平均控制图EWMA:关注的是历史数据的加权平均，可以有效控制长期过程的微小偏移。 标准化控制图Z-MR:当过程输出为不同规格的产品，相互之间的差异比较大但样本量又比较小时选用该控制图（多品种，小批量） 基本定义及数据类型 计量型过程能力分析 计数型过程能力分析 Section Three -过程能力分析 Process Capability 数据类型可以分为计量型数据和计数型数据。 计量型数据是属于不可数集合的，一般通过测量获得，且有计量单位。比如(0,100]，实数集，常见的有正态分布，指数分布，