电子元器件与集成电路测量.pptVIP

图4.24 测量运算放大器开环输入阻抗 Rin称为差分输入阻抗，Rc称为共模输入阻抗。当作为反相放大器使用时，同相输入端接地，RcRin，可以近似认为差分输入阻抗即为其输入阻抗。 测量运算放大器开环输入阻抗的电路如图4.25所示。 图4.25 运算放大器基本测试电路 (2) 运算放大器开环增益Av的测量。  Av的测量方法仍采用如图4.24所示测量运算放大器的输入阻抗的方法。因为Av=Uo/Ui，且 所以 (3) 运算放大器转换速率（ Sr ）的测量。 运算放大器能够将正弦信号转化为矩形波，这种大信号工作特性一般用Sr来表征，可以用示波器来测量。具体测量电路如图4.26所示。 图4.26 运算放大器转换速率的测量 （a） 测量运算放大器转换速率电路； （b） 图(a)所示电路的输入和输出电压 2） 一般模拟集成芯片的测试 (1) 性能指标测量。 图4.27是单片集成锁相环CD4046的测试电路。 图4.27 CD4046性能测试电路 (2) 集成芯片的在线测试。 在调试和维修工作中，常常对已焊接在电子线路板上的集成芯片是否正常产生疑问。这时采用在线测试的方法，可以解决大多数问题。在线测试一般有以下几种方法：  ① 电阻测量法：  ② 电压测量法：  ③ 信号注入法： 在图4.28