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- 2019-12-14 发布于广东
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对强n型半导体(Et在EF之下):n0、p0、n1、p1中n0最大,即n0p0 寿命简化为 对n型较重掺杂半导体,对寿命起主要作用的是复合中心对少数载流子空穴的俘获系数rp, 而与电子俘获系数rn无关。 对高阻半导体, EF在Et 与Ei之间, n0、p0、n1、p1中p1最大,即p1 n0, p0、n1, 并且 n0 p0 强n型、强p型、及高阻区是相对的,与复合中心能级Et的位置有关。 一般地,禁带中央附近的深能级Et是最有效的复合中心。 如CU, Fe, Au等杂质在Si中形成深能级,是有效的复合中心 浅能级,不是有效的复合中心 总结 假设复合中心是具有一定半径的球体,其截面积为?,截面积越大,俘获载流子的概率越大。 ?描述了复合中心俘获载流子的本领。 ?-描述电子俘获截面,?T载流子热运动速度 ?+描述空穴俘获截面 电子、空穴的俘获系数 深能级复合中心举例 Au在Si中为深能级, 双重能级:受主能级EAt, 距导带0.54eV; 施主能级EDt, 距价带0.35eV; 两能级其主要作用不同 N型Si:若浅施主不少,EF接近EC, Au接受电子成为Au-,只有受主能级EAt起作用. p型Si: Au基本上为空,释放电子为Au+,只存在施能级EDt起作用. N或p型Si,Au为有效复合中心,对少数载流子寿命产生极大的影响。 室温下,若r
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