透射的电子显微总体分析.ppt

离位错线愈远， ︳ S′︱愈小，在位错线右侧S′0，在其左侧S′ 0，于是，参看上图b),c)， 在右侧区域内(例如B位置)，晶面的总偏差S0+S′ S0，使衍衬强度IBI， 而在左侧，由于S0与S′符号相反，总偏差S0+S′S0，且在某个位置(例如D′)恰巧使S0+S′=0，衍射强度I D′=Imax。 这样，在偏离位错线实际位置的左侧，将产生位错线的象(暗场中为亮线，明场相反). 不难理解，如果衍射晶面的原始偏离参量S0 0，则位错线的象将出现在其实际位置的另一侧。这一结论已由穿过弯曲消光条纹(其两侧S0符号相反)的位错线相互错开某个距离得到证实。 位错线像总是出现在它的实际位置的一侧或另一侧。 衬度本质上是由位错附近的点阵畸变所产生的，叫做“应变场衬度”。 而且，由于附近的偏差S′随离开位错中心的距离而逐渐变化，使位错线像总是有一定的宽度(一般在30~100? 左右)。尽管严格来说，位错是一条几何意义上的线,但用来观察位错的电子显微镜却并不必须具有极高的分辨本领。通常，位错线像偏离实际位置的距离也与像的宽度在同一数量级范围内。 对于位错衬度的上述特征，运动学理论给出了很好的定性解释。 7.4.3 衍衬运动学理论的适用范围 衍衬运动学理论在定量上是不可靠的，定性解释上也有局限性(因为我们所有结论都是从理想的假设出发得到的，和实际有所差别）。 另外电子衍射强度往往可以产生二次衍射效应以及透射线与衍射线之间的相互作用，还有由于吸收出现的反常衬度效应等衍衬像的细节等，都是衍衬运动学无法处理的。 补充内容：高分辨透射电镜分析 思考题： 复型样品和薄膜样品在透射电镜下的衬度是如何形成的？适用于何种材料？ a. 采用双束近似处理方法，即所谓的“双光束条件” ① 除透射束外，只有一束较强的衍射束参与成象，忽略其它衍射束，故称双光成象。 ② 这一强衍射束相对于入射束而言仍然是很弱的。这在入射电子束波长较短以及晶体试样较薄的情况下是合适的。 7.4.2 电子衍衬像的运动学原理 1 衍衬象运动理论的基本假设： 因为波长短，反射球半径1/λ大，垂直于入射束方向的反射球面可看作平面。加上薄晶的“倒易杆”效应。因此，试样虽然处于任意方位，仍然可以在不严格满足布拉格反射条件下与反射球相交而形成衍射斑点。 ③ 由于强衍射束比入射束弱得多，因此认为这一衍射束不是完全处于准确的布拉格反射位置，而存在一个偏离矢量S，S表示倒易点偏离反射球的程度，或反映偏离布拉格角2θ的程度。 b. 入射束与衍射束不存在相互作用，二者之 间无能量交换。 c. 假设电子束在晶体试样的多次反射与吸收 可以忽略不计。 假设相邻两入射束之间没有相互作用， 可以采用柱体近似的方法计算衍射强度。 每一入射束范围可以看作在一个圆柱体内，只考虑沿柱体轴向上的衍射强度的变化，认为dx、dy方向的位移对布拉格反射不起作用，即对衍射无贡献。这样变三维情况为一维情况，这在晶体很薄，且布拉格反射角2θ很小的情况下也是符合实际的。根据布拉格反射定律，这个柱体截向直径近似为： D≈t ? 2θ，t为试样厚度。 设 t=1000?，θ≈10-2 弧度，则 D=20 ?，即柱体内的电子束对范围超过20 ?以外的电子不产生影响。若把整个晶体表面分成很多直径为20 ?左右的截向，则形成很多很多柱体。计算每个柱体下表面的衍射强度，汇合一起就组成一幅由各柱体衍射强度组成的衍衬象，这样处理问题的方法，称为柱体近似。 2 完整晶体的衍衬运动学 根据上述假设, 将晶体分成许多晶粒, 晶粒平行于Z方向, 每个晶粒内部含有一列单胞, 每个单胞的结构振幅为F, 相当于一个散射波源，可推导出衍射波强度公式： Ig=π2sin2(πst)/ ζg 2(πs)2 (7-2) ζg = π V c cosθ/ λ Fg , 称为消光距离。 V c单胞体积, θ: 半衍射角, Fg 结构振幅, λ—电子波长 sin2(πst)/(πs)2 称为干涉函数. 公式表明, Ig是厚度 t 与偏离矢量S的周期性函数。 物理意义： 1. 等厚消光条纹 是指衍射强度随样品厚度的变化。 如果晶体保持确定的位向, 则衍射晶面的偏离矢量保持恒定, 此时上式变为: I g = sin2(πst)/(sζg )2 （1）等厚干涉