相位噪声测量技术.docVIP

相位噪声及其测试技术 相位噪声及其测试技术 Phase Noise and Its measurement techniques 摘 要：本文简要阐述了相位噪声的概念及其表征，并对相位噪声和相位噪声测试方法进行了分析，并在此基础上提出了一种新的相位噪声测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 一、引言 --- 现代电子系统和设备都离不开相位噪声测试的要求，因为本振相位噪声影响着调频、调相系统的最终信噪比，恶化某些调幅检波器的性能；限制频移键控（FSK） 和相移键控（PSK）的最小误码率；影响频分多址接收系统的最大噪声功率等。在很多高级电子系统和设备中，核心技术中往往有一个低相位噪声频率源。可见对 相位噪声进行表征、测试以及如何减小相位噪声是现代电子系统中一个回避不了的问题。本文较详细的阐述了相位噪声的概念及其表征，并在分析其通用的测试技术 的同时提出了一种新的测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。 二、相位噪声的概念及其表征 -- -相位噪声一般是指在系统内各种噪声作用下引起的输出信号相位的随机起伏。通常相位噪声又分为频率短期稳定度和频率长期稳定度。所谓频率短期稳定度, 是指由随机噪声引起的相位起伏或频率起伏。至于因为温度、老化等引起的频率慢漂移,则称之为频率长期稳定度。通常我们主要考虑的是频率短期稳定度问题，可 以认为相位噪声就是频率短期稳定度。 ---一个理想的正弦波