非相干检测工作方式和系统.pptVIP

光电位置传感器（PSD） 光电位置传感器是一种对入射到光敏面上的光点位置敏感的光电器件，其输出信号与光点在光敏面上的位置有关。 1、PSD工作原理和位置表达式 2、一维位置传感器和等效电路 3、二维PSD和等效电路 （1）两面分离型PSD （2）表面分离型PSD 改进表面分离型PSD PSD的主要特性 光谱响应特性 结电容与反偏电压关系特性 温度特性 位置检测误差 光谱响应特性 结电容与反偏电压关系特性 温度特性 位置检测误差 * 第7章 非相干检测方法与系统 相干光检测系统：被测信息加载于光频载波的幅度、频率或相位之中的系统。 非相干检测系统：被测量加载于光载波的强度之中或加载于调制光载波的振幅、频率或相位变化之中。 7.1 光电信号变换及光电检测系统分类概述 变换方法 光 学 原 理 应 用 范 围 几何光学法 透射、反射、折射、散射、遮光、光学成像等非相干光学现象或方法 光开关、光学编码、光扫描、瞄准定位、光准直、外观质量检测、测长测角、测距等 物理光学法 干涉、衍射、散斑、全息、波长变换、光学拍频、偏振等相干光学现象或方法 莫尔条纹、干涉计量、全息计量、散斑计量、外差干涉、外差通信、光谱分析、多谱勒测速等 光电子学法 电光效应、声光效应、磁光效应、空间光调制、光纤传光与传感等 光调制、光偏转、光开关、光通信、光记录、光存储、光显示等 主动系统 被动系统 按照光信息不同，把光电检测系统又分为：相干检测系统和非相干检测系统。若光信息为光强，即被测量被携带于光载波的强度之中，不论光源是相干光源还是非相干光源，这时光电器件只直接接收光强度变化，最后用解调的方法检出被测信息，这种方法组成的系统称为直接检测光电系统。若光信息加载于非相干光源的光载波的振幅、频率或者相位变化之中，这样所组成的系统则称为非相干检测系统。通常把直接检测光信息的光强（或叫光功率）以及检测非相干光调制频率、振幅、相位的方法统称为非相干检测。如果光源是相干光源，但用光调制的方法使被测信息加载于调制光的幅度、频率或相位之中，然后用光电解调的方法从调制光的幅度、频率或相位之中检测出被测信息的系统称为相干检测系统。 7.2 直接检测系统 7.2.1直接检测系统的基本原理 检测系统可经光学天线或直接由探测器接收光信号，在其前端还可以经过频率滤波（如滤光片）和空间滤波（如光阑）处理。接收到的光信号入射到光探测器的光敏面上（若无光学天线，则仅以光探测器上的光敏面积接收光场）。同时，光学天线也接收到背景辐射，并与信号光一起入射到探测器光敏面上。 7. 2.2直接检测系统的基本特性 光探测器的平方律特性 直接检测系统的信噪比 直接检测系统的视场角 7.3 随时间变化的光电信号检测方法及系统 7.3.1 幅值法 1.直读法 2、指零法 3、差动法 差动法 4、补偿法 5、开关法 7.3.2频率法 1、波数测量法 通过测量光通量随时间变化的周期来检测被测值的方法称作波数测量或波形计数。在一般情况下波数测量的做法是将由被测量X引起的周期变化的光通量光电转换为电脉冲，在用电子计数器来计数波数的变化N，最后根据公式计算出测量结果。 2、频率测量法 首先将光通量的变化速度转换为电脉冲的频率，采用电子频率计测量脉冲计数率f ，最后根据脉冲当量值m0即可计算出被测速率v。 光栅莫尔条纹测量原理图 5.3.3 相位和时间测量法 1、相位测量法 2.时间测量法 所谓光学目标就是不考虑被测对象的物理本质，只把它们看作是与背景间有一定光学反差的几何形体或图形景物。 根据光强空间分布的复杂程度和测量目的，分为复杂图形景物和简单光学目标。 复杂图形景物：图形分布复杂，空间频率高，密度等级丰富。 简单光学目标：通常由点、线、平面等简单规则图形组成。 7.4 空间分布的光电信号检测方法与系统 光学目标和背景的光学反差构成了物体的外形轮廓，轮廓尺寸的中心位置称为几何中心。 光学目标的亮度分布是光辐射能量沿空间的分布，将物体按辐射能量相等的标准分割为两部分，其中心的位置称为亮度中心。 B(x)是亮度分布曲线 7.4.2 几何中心检测法 通过测量物体轮廓分布（像空间）确定物体中心位置的方法。 1. 像分析和像分析器 像分析：通过分析被测物体在像面上的几何中心相对于像面基准的偏移情况，从而确定该物体在空间位置的方法。 像分析器：能够实现像分析作用的装置称为像分析器。 基本工作原理：将被测物体的光学像相对于像面基准的几何坐标变换为通过该基准某一取样窗口的光通量，通过检测该光通量的变化来解调出物体的坐标位置。 2 典型的像分析器 1.单通道像分析器（单通道、单通道调制） 2.双通道差分调制式像分析器 单通道像空间分析器 要求： 1、像面上设置的取样窗口是定位