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维普资讯 第 24卷 第 5期 发 光 学 报 V01.24 No.5 2003年 10月 CHINESEJOURNAIOFLUMINESCENCE Oct.,2003 文章编号:1000—7032(2003l05—0523—04 BAM 荧光粉表面包膜处理及其发光性能 马 林 ,胡建 国,王惠琴,徐 燕 (复旦大学 化学系,上海 200433) 摘要 :为改进稀土三基色荧光粉尤其是BAM荧光粉的光衰问题,采用铝溶胶对 BAM荧光粉粉体进行表面 处理,获得 了包覆氧化铝膜层的 BAM 粉。以 SEM,XPS等方法对其表 面形貌和组分进行测试。包覆率达到 90%左右,且包覆膜层稳定。以未经包膜处理的 BAM 荧光粉作对照进行发光性能测试。测得包膜 BAM 粉的 热稳定性得 以改善,制成单色灯燃点试验后的光衰小于对照样品。对荧光粉表面吸附沉积的汞量变化进行检 测,包膜 BAM 粉的含汞量小于未经包膜处理 的对照样品。结果表 明:对荧光粉进行表面包膜处理 以保护粉 体、提高热稳定性 、降低光衰的研究工作是具有实际意义的。 关 键 词 :荧光粉 ;包膜 ;光衰 ;铝溶胶 中图分类号 :0482.31 文献标识码 :A 1 引 言 2 实 验 为改进稀土三基色荧光粉尤其是 BaMgA110 2.1 BAM粉表面包膜处理 O17:Eu蓝粉 (B 粉)的光衰 问题 ,人们提 出了 以本研究室合成的铝溶胶 (SEM 检测溶胶粒 各种措施 ,其 中引起广泛注意的是 :对荧光粉颗粒 子粒径为 10nm左右)作为包覆材料 ,采用反应 、 吸附复合方 法,对 BAM 荧光粉进行包膜 ,经干 进行表面包膜处理 ,在粉体表面形成保护膜层 ,以 燥 、灼 烧等处理 后,获得 了表面具 有氧化铝 (7. 减少短波紫外辐射 的轰击、汞的吸附沉积等有害 Al2O3)膜层 的BAM 粉 。 因素 的影响,以便 降低荧光灯尤其是紧凑型节能 荧光灯 的光衰 [1--5]。 2.2 荧光粉表面分析 SEM,XPS表征测定方法是对材料进行表面 我们采用粒径 10nm左右的铝溶胶 ,对 BAM 分析 的 有 效检 测 手段 。我 们使用 荷 兰 Philips 粉体进行表面包膜处理 ,获得 了包覆氧化铝膜层 XI30型扫描 电镜仪 (SEM)测 定样 品形貌 ,使用 的BAM 荧光粉。以 SEM,XPS等方法对 BAM Perkin—ElmerPHI5000CESCASystem 进行光 电 粉 的表面形貌 、组分进行测试研究,比较 了包膜前 子能谱 (XPS)测定,分析 了荧光粉表面包覆 的氧 后荧光粉 的表面状况 。以未经包膜处理 的 BAM 化铝膜层,对包膜前后的荧光粉体作 了观察 比较。 粉作对照 ,测试 了荧光粉的热稳定性 ;将荧光粉制 2.3 发光性能试验 成单色灯后进行 了燃 点试验 ,测试得到 了各组单 以未经表面包膜处理 的同

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