Q_HDFHM0001-2018电子设备探测门.pdf

Q/HD 北京方鸿智能科技有限公司企业标准 Q/HDFHM0001—2018 电子设备探测门 2018-4-8 发布 2018-4-8 实施 北京方鸿智能科技有限公司 发布 Q/HDFHM0001—20 18 目 次 目 次 I 前 言 III 电子设备探测门 1 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 定义和术语 1 3.1 非线性结点 1 3.2 自动测试装置 1 3.3 标准测试人 1 3.4 测试物 1 3.5 测试物方向 2 3.6 测试物位置 2 3.7 报警 2 3.8 漏报警 2 3.9 误报警 2 3.10 报警率 2 3.11 误报率 2 3.12 探测区域 2 3.13 检测时间 2 4 设备组成 2 5 要求 2 5.1 外观要求 2 5.2 机械要求 3 5.3 电源 3 5.4 操作和控制要求 3 5.5 功能要求 3 5.6 性能要求 4 5.7 电气安全 4 5.8 电磁兼容性要求 5 5.9 电磁辐射安全 5 5.10 环境适应性 5 5.11 稳定性要求 5 6 试验方法 5 6.1 试验的一般规定 6 6.2 外观测试 6 6.3 机械结构测试 6 6.4 电源要求试验 7 6.5 操作和控制装置测试 7 6.6 功能测试 7 I Q/HDFHM0001—20 18 6.7 性能测试 8 6.8 安全性测试 10 6.9 电磁兼容性测试 11 6.10 电磁辐射安全性测试 11 6.11 环境适应性测试 11 6.12 机械应力实验 13 6.13 稳定性测试 13 7 检验规则 13 7.1 检验分类 13 7.2 检验项目 14 7.3 型式检验的抽样与合格判定 15 7.4 出厂检验的抽样与合格判定 15 8 产品标志及标签 15 9 随机文件 15 10 包装、运输及贮存 15 10.1 包装 15 10.2 运输 16 10.3 贮存 16 附录1 测试物 17 附录2 测试位置 18 II Q/HDFHM0001—20 18 前 言 电子设备探测门主要用于窃听器、录音笔、手机、存储介质等电子类产品的检查，设备融合谐波探 测技术及磁性探测技术，适用于保密检查领域。 本标准规定了电子设备探测门在功能、性能、结构及人员安全方面的技术要求和试验方法，是设计、 制造及检验此设备的基本依据。 本标准由北京方鸿智能科技有限公司提出。 本标准由北京方鸿智能科技有限公司起草。 本标准主要起草人：乔智红、孙玉涛、黄素平、蒋颜玮。 本标准于2018年6月首次发布。 III Q/HDFHM0001—20 18 电子设备探测门 1 范围 本标准规定了电子设备探测门的设备组成，技术要求，试验方法，检验规则