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《数字逻辑》
实 验 指 导 书
计算机科学系硬件教研室
二○一五年八月
实验一 基本逻辑门和逻辑电路
一、实验目的
1.熟悉TTL小规模数字集成电路的外型、引脚和使用方法;
2.掌握TTL数字集成电路与非门、或非门和异或门的输入与输出之间的逻辑关系;
3.初步掌握组合逻辑电路测试和分析的基本方法。
二、实验器件和设备
1.四―2输入与非门74LS00 1片
2.四―2输入或非门74LS28 1片
3.四―2输入异或门74LS86 1片
4.TDS―4数字系统综合实验平台 1台
5.万用表 1个
三、实验内容
1.按图1.1测试TTL集成电路与非门、或非门和异或门的输入和输出的逻辑关系;
a)与非门 b)或们 c)异或门
图1.1 基本逻辑门
2.测试并分析图1.2逻辑电路的功能。
图1.2 组合逻辑电路
四、实验提示
1.将被测器件插入实验台上的14引脚IC插座中,注意芯片的缺口方向必须与IC插座的缺口方向一致。将器件的引脚7连接到实验台的“地(GND)”,引脚14连接到实验台的+5V电源;
2.将被测门的输出连接到实验台电平指示器―LED灯的输入端,LED灯亮表示高电平(“逻辑1”),LED灯灭表示低电平(“逻辑0”
3.用实验台的电平开关输出作为被测门的输入,拨动开关,改变门的输入电平,观察并记录门的输出电平;
4.用万用表的电压档测量被测门的输入引脚和输出引脚的电压值。
五、实验报告要求
1.分别用真值表和电压值表的形式表示实验内容1的结果;
2.用真值表的形式表示实验内容2的结果,写出电路的逻辑函数并分析其功能。
实验二 译码器、编码器和数据选择器
一、实验目的
1.掌握译码器、编码器、数据选择器的逻辑功能和使用方法;
2.掌握TTL中规模集成电路的使用方法。
二、实验器件和设备
1.3?8线译码器74LSl38 1片
2.8?3线优先编码器74LS148 1片
3.双―4选1数据选择器74LSl53 1片
4.TDS―2数字电路实验系统 1台
三、实验内容
1.测试3?8线译码器74LSl38的逻辑功能。使能输入端G1、G2A、G2B和编码输入端C2、C1、C0分别接电平输出开关,译码输出端Y0~Y7分别接LED指示灯。改变输入G1、G2A、G2B和C2、C1、C0的电平,观察并记录输出Y0~Y7的状态;
2.测试8?3线优先编码器74LSl48的逻辑功能。使能端EI和信号输入端I0~I7分别接电平输出开关,编码输出端C2~C0分别接LED指示灯。改变EI和I0~I7的电平,观察并记录编码输出C2~C0的状态;
3.测试双―4选1数据选择器74LSl53中一个4选1数据选择器的逻辑功能。使能端G、数据选择端S1 S0和数据输入端D0~D3分别接电平输出开关,输出端Y接LED指示灯。改变输入G、S0 S1及D0~D3的电平,观察并记录输出Y的状态;
a)3-8线译码器 b)8-3线优先编码器 c)四选一数据选择器
图2.1 译码器、编码器、数据选择器
4.74LS153芯片内部集成了2个4选1数据选择器,并且2个数据选择器共用相同的数据选择输入端B、A。图2.2是74LS153的扩展应用,测试该电路。
四、实验要求
1.实验前应熟悉译码器、编码器和数据选择器的功能。
五、实验报告要求
1.根据实验作出74LS138、74LS148、74LSl53的功能表;
2.分析74LS138输入端G1、G2A、G2B的功能;
3.分析74LS148的输入端EI及输出端GS、EO的功能;
4.分析74LS153输入端G的功能;
5.分析推导出图2.1电路的逻辑表达式。
图2.1 数据选择器的应用
实验三 组合逻辑电路
一、实验目的
1.掌握组合逻辑分析和设计的方法;
2.初步掌握TTL中规模集成电路的应用方法。
二、实验器件和设备
1.双―4选1数据选择器74LSl53 1片
2.四―2输入与非门74LS00 1片
3.四―2输入异或门74LS86 2片
4.TDS―2数字电路实验系统 1台
三、实验内容
1.74LS153芯片内部集成了2个四选一数据选择器,并且2个数据选择器共用相同的数据选择输入端B、A。图3.1为使用74LS153实现组合逻辑功能的电路图,测试该电路,分析、推导出电路的逻辑函数,并说明电路的功能。
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