材料学中常用分析的方法第三讲 SIMS 有关金属材料分析手段.pptVIP

材料学中常用的分析方法Instrumental Analysis in Materials Science;第三讲;EDX(WDX)提供了微区成分分析能力AES/XPS能够分析表面成分;质谱类仪器分析粒子质量的原理;磁谱型质谱仪;四极式质谱仪;AC and DC voltages on the rods cause the ions to oscillate. For a given set of voltages, ions with a single m/q ratio undergo stable oscillation and go through the rods, and other ions have unstable oscillations and strike the rods. Scanning voltages scans the mass spectrum.?;某气体的MS谱(注意: 其纵坐标覆盖了5-6个数量级的对数坐标) m/?m=1200;真空泵油蒸气的MS谱;两种标准气体成分的MS分析结果;MS的主要技术指标 （1）质量分辨本领;早期的火花放电质谱 (SSMS, spark source MS);SSMS谱仪的离化源 (spark source