第三章纳米材料检测分析技术.pptVIP

AFM Manipulation of CNT AFM操纵纳米碳管 **** § 3.4 X光衍射与谢乐尔公式 1 X光的产生 1895年11月8日，德国物理学家伦琴在研究真空管高压放电现象是偶然发现的。 1901诺贝尔物理奖。 灯丝中发出的电子达到一定的能量，电子受高压电场的作用以高速轰击靶面，会把靶面材料中的K层电子空出，处于激发态，其它层的电子跃入，能量降低，发出X光。 热阴极X射线管示意图 填充玻纤的高分子断面 3．SEM分析样品的优缺点 优点： 1)仪器分辨本领较高，通过二次电子像能够观察试样表面60 ?左右的细节。 2) 放大倍数变化范围大(一般为l0—150000倍)，且能近续可调。 3)观察试样的景深大，图像富有立体感。可用于观察粗糙表面，如金属断口、催化剂等。 4)样品制备简单。 缺点： 不导电的样品需喷金(Pt、Au)处理，价格高，分辨率比TEM低，现为3-4nm。 光学显微镜、扫描电镜及透射电镜性能比较 **** §3.3 扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM） 一．量子隧道效应 在经典力学中，当势垒的高度比粒子的能量大时，粒子是无法越过势垒的。 量子力学中，粒子穿过势垒出现在势垒另一侧的几率并不为零，这种现象称为隧道效应。 隧道效应是微观粒子(如电子、质子和中子)波动性的一种表现。 一般情况下，只有当势垒宽度与微观粒子的