平面度和粗糙度区别(天准).docxVIP

平面度和粗糙度的区别 类别 项目 平面度 粗糙度 平面度是指基片具有的宏观凹 表面粗糙度，是指加工表面具有的 凸高度相对理想平面的偏差。 较小间距和微小峰谷不平度。其两 平面度误差是将被测实际表面 波峰或两波谷之间的距离（波距） 定 义 与理想平面进行比较，两者之 很小（在 1mm 以下），用肉眼是 间的线值距离即为平面度误差 难以区别的，因此它属于微观几何 值；或通过测量实际表面上若 形状误差。表面粗糙度越小，则表 干点的相对高度差，再换算以 面越光滑。表面粗糙度的大小，对 线值表示的平面度误差值 机械零件的使用性能有很大的影响 表示符号 所属类别 测量方法  形位公差 尺寸特征 1、平晶干涉法 1.比较法 平晶干涉法用光学平晶 将被测量表面与标有一定数值 的工作面体现理想平面，直接 的粗糙度样板比较来确定被测表 以干涉条纹的弯曲程度确定被 面粗糙度数值的方法。 比较时可以 测表面的平面度误差值。 采用的方法 : Ra 1.6 μm时 目测 2、光波干涉法 Ra1.6~Ra0.4 μ m 时用放大镜 Ra 光波干涉法常利用平晶 0.4 μ m时用比较显微镜。 进行，可以把干涉图案作为被 特点：该方法测量简便，使用于车 检验表面的等高线，因此可以 间现场测量，常用于中等或较粗糙 画出该表面的形状。 表面的测量。 3、打表测量法 2.触针法 打表测量法是将被测零 利用针尖曲率半径为 2 微米左 件和测微计放在标准平板上， 右的金刚石触针沿被测表面缓慢滑 以标准平板作为测量基准面， 行，金刚石触针的上下位移量由电 用测微计沿实际表面逐点或沿 学式长度传感器转换为电信号，经 几条直线方向进行测量。 放大、滤波、计算后由显示仪表指 4、液平面法 示出表面粗糙度数值，也可用记录 液平面法是用液平面作 器记录被测截面轮廓曲线。一般将 为测量基准面，液平面由“连 仅能显示表面粗糙度数值的测量工 通罐 ”内的液面构成， 然后用传 具称为表面粗糙度测量仪，同时能 感器进行测量。 记录表面轮廓曲线的称为表面粗糙 度轮廓仪（简称轮廓仪。这两种测 测量仪器 应用行业  5、三坐标测量法 天准公司自主研发生产的 CMU 及 CMG 系列三坐标测量 机在测量平面度时可以通过测 量软件自动进行平面度误差计 算与分析， 完全不需人工计算， 大大提高测量效率和准确率。 测量前也可在测量软件中设定 公差值，当测量结果不在平面 度公差带时，超差数据可以用 不同颜色显示（颜色可以自行 设定）。另，测量软件还有 SPC 统计分析及 CAD 图纸导入等 功能。 偏摆仪、 百分表、 数据采集仪、影像测量仪、三坐标测量机 主要针对平面型工件： PDP 背板，平板型冲压件，大尺寸硬 质塑料等行业  量工具都有电子计算电路或电子计 算机，它能自动计算出轮廓算术平 均偏差 Rα，微观不平度十点高度 RZ ，轮廓最大高度 Ry 和其他多种 评定参数，测量效率高，适用于测 Rα 为 0.025 ～ 6.3 微米的表面粗糙度。 3.光切法 双管显微镜测量表面粗糙度，可用作 Ry 与 Rz 参数评定， 测量范 0.5~50 4.干涉法 利用光波干涉原理 (见平晶、激光测长技术 )将被测表面的形状误差以干涉条纹图形显示出来，并利用放大倍数高 （可达 500 倍）的显微镜将这些干涉条纹的微观部分放大后进行测量，以得出被测表面粗糙度。应用此法的表面粗糙度测量工具称为干涉显微镜。这种方 法适用于测量 Rz 和 Ry 为 0.025 ～ 0.8 微米的表面粗糙度。 表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表 面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、 粗糙度计、粗糙度测试仪、干涉显 微镜、粗糙度轮廓仪、双管显微镜 广泛应用于各种金属与非金属的加 工表面的检测，该仪器是传感器主 机一体化的袖珍式仪器，具有手持 式特点，更适宜在生产现场使用