X射线物理学基础演示教学.pptVIP

第一章 X射线的物理特性 ; 1895年，德国物理学家伦琴（Rontgen W.C）在研究阴极射线时发现了X射线。1901年，首届诺贝尔物理学奖授予伦琴， 以表彰他发现了对物理学界有重大影响意义的X射线。 X射线、放射性和电子被称为世纪之交的三大发现。;1905年，德国基尔大学的勒纳德。阴极射线。; 劳埃在1912年进行的晶体衍射实验结果证明：X射线是一种波长很短的电磁波，也揭示了物质内部原子规则排列的特性。; 在电磁波谱上，X射线处于紫外线和γ射线之间，波长约为0.01～10nm，用于衍射分析的X射线波长一般为0.05～0.25nm。X射线具有波粒二相性，而粒子性表现突出，可视为具有一定能量的光量子流。;; ——X射线的波长从最小值λSWL（短波限）向长波方向伸展，强度随波长连续变化，且在λm处有一最大值。 ; 连续X 射线谱受管电压U、管电流i和阳极靶材的原子序数Z三个因素作用。 ;U、i、Z三个因素决定了连续谱的总强度，即 ; 当管电压增高到Uk时，在连续谱上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为特征谱或标识谱。;X射线的强度（相对单位）; 在多晶材料的衍射分析中总是希望应用以特征谱为主的单色光源，即有尽可能高的I特/I连。对K系谱线，当U/Uk＝4时I特/I连获最大值。所以X射线管适宜的工作电压U≈（3～5）Uk。 ;入射到某物质的X射线分为穿透和吸收两部分。 ;;;μm;μm;吸收限; 为几种不同的靶材产生的X射线配备合适的滤波片，从而达到获得单色X射线的目的。; 元素的吸收谱还可作为选择X射线管靶材的重要依据。在进行衍射分析时，总希望X射线尽可能少的被试样吸收，从而获得高的衍射强度和低的背底。这就应使靶的Kα谱位于试样元素K 吸收限的右近邻或左面远离吸收限的低μm处。 ; 相干散射波虽然只占入射能量的极小部分，但由于它的相干特性而成为X射线衍射分析的基础。 ;λ;;中国近代物理学奠基人，生于江西。 1921年赴美入芝加哥大学，随康普顿从事物理学研究。 1926年获博士学位。 1928年秋起任清华大学教授，物理系主任、理学院院长。 1945年10月任中央大学校长。 1950年夏任中国科学院近代物理研究所所长，同年12月起任中国科学院副院长。 1977年11月30日在北京逝世。;卡文迪许(Henry Cavendish,1731.10.10.～1810.3.10.)英国化学家、物理学家。;剑桥大学的卡文迪许实验室建于187l～1874年间，由校长威廉·卡文迪许私人捐款兴建。;第二章 X 射线衍射方向;Z;X;;正交晶系的晶面间距公式 ;;晶体中各电子受X射线照射所产生的相干散射线会相互干涉，使某些方向被加强，另一些方向被削弱。电子散射线干涉的总结果称为衍射。; 当一束单色且平行的X射线照射到晶体时，同一晶面上的原子的散射线在晶面反射方向上是同相位的，因而可以叠加；不同晶面的反射线若要加强的必要条件是相邻晶面反射线的波程差为波长的整数倍。;;（100）;;衍射极限条件 ;c*;倒易点阵的性质;倒易矢量和正点阵中的晶面是一一对应关系。 ;4; 平面ABC的指数是(hkl)，按照晶体学的定义，(hkl)交三个轴的截距为a/h，b/k，c/l，显然：;正、倒点阵异名基矢点乘为0，同名基矢点乘为1。 ;爱瓦尔德球图解法;X射线衍射方法;;;;第三章 X射线衍射强度 ;简单点阵单位晶胞的散射强度相当于一个原子的散射强度。 复杂点阵单胞的散射波振幅应为单胞中各原子的散射波振幅的矢量合成。由于衍射线的相互干涉，某些方向的强度将会加强，而某些方向的强度将会减弱甚至消失，习惯上称为系统消光。 ;δ＝OC－AB ＝|r | cos θ － | r |cos α ＝ | r | · | k′ | cos θ － | r | · | k | cos α ＝ r · k′－r · k ＝r ·（k′－k） ;;定义 f 为原子散射因子——反映一个原子散射能力的参量。 ;结构因数 ;简单立方 ;;;面心立方晶胞中的代表原子;;简单点阵的结构因数与HKL无关，任意HKL均不消光。 ;;CuBe ; 衍射积分强度近似等于ImB，Im与1/sinθ成比例，B与1/cosθ成比例，故衍射积分强度与1/(sinθcosθ)即1/sin2θ成比例。 ;爱瓦尔德球;洛伦兹因数说明了衍射的几何条件对衍射强度的影响。 ;; 若以波长为λ、强度为I0的X射线，照