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X射线衍射分析原理与应用―X射;第一讲 X射线衍射基本原理X;X射线物理基础X射线的本质X射;X射线的本质1895年德国物理;X射线的本质X射线是一种波长很;X射线在电磁波谱中的位置;X射线的波粒二相性波动性:粒子;X射线的产生X射线的产生:X射;X射线管;X射线管(1)阴极(灯丝)——;X射线管(4)高速电子转换成X;X射线管的性能X射线衍射工作中;旋转阳极上述常用X射线管的功率;X射线谱--------? 连;X射线谱--------? 特;特征X射线的产生机理特征X射线;特征X射线的产生机理产生K激发;当K电子被打出K层时,若L层电;特征X射线的命名方法同样当K空;X射线与物质的相互作用当一束X;当X射线通过物质时,物质原子的;X射线的吸收曲线X射线通过物质;吸收限的应用 ---X射线滤波;滤波片的选择规则Z靶<40时,;吸收限的应用--阳极靶材料的选;1895年伦琴发现X射线后,认;X射线衍射可归结为两方面的问题;布拉格定律的推证当Ⅹ射线照射到;布拉格定律的推证X射线有强的穿;Ⅹ射线在晶体中的衍射,实质上是;Bragg定律讨论--(2)衍;Bragg定律的讨论--(3);Bragg定律的讨论--(3);布拉格方程应用布拉格方程是X射;X射线的强度X射线衍射理论能将;一个原子对X射线的衍射当一束x;一个原子对X射线的衍射原子中的;原子对X射线的衍射对Φ积分可求;一个晶胞对X射线的衍射简单点阵;晶胞中原子对X射线的散射波的合;结构振幅的计算结构振幅为:可将;结构振幅的计算1、简单点阵单胞;结构振幅的计算2、体心点阵 单;结构振幅的计算3、面心点阵单胞;三种晶体可能出现衍射的晶面简单;粉末多晶体的衍射强度衍射强度的;粉末多晶体的衍射强度(1)?结;(1)?结构因子和形状因子这个;(2)角因子--(罗仑兹因子);角因子将上述几种因素合并在一起;晶粒大小的影响1.晶体在很薄时;半高宽 B= λ/t ;参与衍射的晶粒数目的影响理想情;衍射线位置对强度测量的影响在德;(3)?多重性因子对多晶体试样;(4)吸收因子x射线在试样中穿;(4)吸收因子;(5)?温度因子原子本身是在振;粉多晶末法的衍射强度综合所有因;粉多晶末法的相对强度德拜法的衍;衍射强度公式的适用条件(1) ;积分强度计算举例以CuKα线照;无标题;无标题;第二讲 X??线衍射实验方法粉;X射线衍射方法;照相法(粉末)照相法以X射线管;德拜照相法-德拜相机相机圆筒常;德拜照相法-德拜相机德拜相机结;德拜照相法-德拜相;德拜照相法-试样制备首先,试样;德拜相的指数标定在获得一张衍射;衍射花样照片的测量与计算 衍射;衍射花样 标定完成上述测量后,;X射线衍射仪法 X射线衍射仪是;X射线衍射仪;X射线衍射仪法衍射仪记录花样与;测角仪 测角仪圆中心是样品台H;测角仪XRD-7000;测角仪圆几何关系;测角仪 θ-2θ联动与θ-θ联;测角仪辐射探测器接收到的衍射线;衍射仪中的光路布置 X射线经线;聚焦圆 当一束X射线从S照射到;聚焦圆在式3-4中,测角仪圆的;探测器与记录系统 X射线衍射仪;正比计数器 正比计数器是由金属;闪烁计数器 闪烁计数器是利用X;闪烁计数器;衍射图谱;实验条件选择 (一)试样衍射仪;实验条件选择 (一)试样衍射仪;实验条件选择 (二)实验参数选;实验条件选择 (二)实验参数选;实验条件选择 (二)实验参数选;实验条件选择 (二)实验参数选;实验条件选择 (二)实验参数选;无标题;第三讲 X射线衍射物相分析原;无标题;无标题;第四讲 XRD-7000S衍;无标题;第五讲 XRD-7000S衍;薄膜附件;薄膜法光路薄膜衍射光路标准衍射;薄膜法功能与特点适合测定从10;θ-2θ法与薄膜法分析TiN的;薄膜測定实例(ITO薄膜);薄膜测定实例(TiN涂层);铜板上金涂层薄膜的测定;用薄膜法测定硬盘硬盘的截面结构;用薄膜法测定硬盘;XRD-7000用高温附件(H;HTK-1200 高温试样加熱;试样加热测定实例(阿斯匹林);应力附件;晶体中应变的种类应力晶格畸变;X射线衍射法应力测定原理2θS;衍射谱多重输出;应力测定计算结果;第六讲 X射线衍射分析的应用;物相分析;无标题;物相分析 物相分析: 确定元;X射线物相定性分析原理X射线物;X射线物相定性分析原理目前已知;X射线物相定性分析1938年由;X射线物相定性分析1969年起;粉末衍射卡的组成粉末衍射卡(简;粉末衍射卡的组成1栏:卡片序号;PCPDFWIN;物相定性分析方法如待分析试样为;物相定性分析方法3 比较此行中;多相混合物物相定性分析方法当待;待测相的衍射数据d/? ;与待测试样中三强线晶面间距符合;4-836卡片Cu的衍射数据d;剩余线条与Cu2O的衍射数据待;物相分析注意事项
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