探针选用标准layout测点选用之意见.pptVIP

测试点闲距 测点闲距决定了针床选用探针的大小, 一般选用规则为: Pad间距D: 1.27~1.75mm(50~69mil)选50mil探针 Pad间距D: 1.78~2.18mm(70~86mil)选75mil探针 Pad间距D: 2.21mm(87mil)以上选100mil探针 Layout应尽量减少50mil探针的选用,因为其价较高,稳定性又不好,优选75mil以上型号探针.?????????????????????? 测点与高元件的距离 CPUBGA:测点的中心距与元件壁的距离应大于等于2mm,距离越大对应力测试就越好。 电容电感：测点中心距与元件壁的距离应大于3mm,元件越高则距离越大。因为这些元件容易倾斜。在让位时如果元件超过8mm,那么针板上的针点就有可能被取消 Guide PIN的问题 直径一般情况下为4mm~8mm(+0.05/-0.05mm) PCB中至少得有3个且分布在PCB的三个角落(2个就可以定位，但通常要一个作为防呆用) Guide PIN的边最好是不上锡的 Guide Pin选用示范图 测试点用途 测试点(Test Pad)是PCB上Layout出的一些关键信号点，在S/A测试阶段可透过治具上的探针导出， 以实现对PCBA供电，信息检测之用。 测试点覆盖到的网络点越多，测试之涵盖率相应就越高（ICT测试)。 测试点大小与分布 测点应均匀分布于PCB板中 测点Pad的直径最好设在0.6~0.8mm, 最好尽量不小于0.8mm 测试点不可焊锡 测点最好设在BOT面 测试点layout在BOT面优点 测点最好设在BOT面，贴服标签尽量贴在TOP面，制作治具加入自动扫条码或者后期加入自动扫条会更简单方便并且选择空间大，扫条码的正确性会更高更有效（无任何遮挡） 测点最好设在BOT面，因为TOP面关系到针床治具的结构稳定性，如果TOP面的结构不稳定那么TOP的针就不稳定了 测试点layout建议更便于实现自动化 建议RD在Lay板子时尽量把测试点都layout在BOT面（右图为Tump的AT系列） 测试点都在BOT面TOP没有使用的测点 条码尽量贴服在Top面更方便刷取条码 测试点layout建议更便于实现自动化 治具不用大的改动只需在标签位置架设Camera 在标签位置开口够Camera能刷到条码即可 测试点layout建议更便于实现自动化 自动刷条码可以减少人工刷条码动作 直接把板子放入治具按测试Run自动开始测试。（特别是连板测试只需刷AOI条码连接出一个连板的所有板子条码） IAC Confidential IAC Confidential * * 大纲 * IAC Confidential 测试探针的选用标准 1.测试点闲距 2.测点与高元件的距离 3.测试探针选用原则 Layout 测试点之建议 1.测试点用途 2.测试点大小与分布 3.测试点layout在BOT面优点 案例 测试探针选用标准 测试Pad间距D PCB PCB Guide Pin Guide Pin Guide Pin 理想的Guide pin,没有过锡 有过锡，一般不采用 * IAC Confidential 测试探针选用原则 优先选用普通测试探针，以利于成本节省和缩短订货周期； 50mil及以上规格探针，套管优先选用焊线结构， 50mil及以下规格则选用带线结构； 对同一类型治具，相同规格探针应选用同一型号，且每种型号需在规格书中注明； 选用特殊用途探针时，应在治工具规格书中特别注明，并提供具体型号，如双头探针、旋转探针等； 焊线结构针套 带线结构针套 * IAC Confidential 测试探针选用原则 探针头型选择应符合行业规则，如FPC测试应选用圆头和多爪针； * IAC Confidential 测试探针选用方法 分析测点间距，考虑探针的使用寿命，并确定出选择测试探针种类。 间距=2.5mm，使用100mil探针； 间距为2.5至1.91mm，使用75mil探针； 间距为1.91至1.27mm，使用50mil探针； 间距为1.27至1mm，使用40mil探针； 分析测点分布和治具结构，确定治具是否需要选用特殊规格探针，如RF治具有时为控制治具总高，需选用长度短的探针； 按照探针更换频率确定探针选用厂商； 当更换一次使用次数=50k次时，优先选用中探探针，节省成本； 当更换一次使用次数50k次时，优先选用Ingun探针，可使用相同规格尺寸的QA、IDI和Pogo探针； 特殊用途探针因供应厂商有限，应根据实际供应境况比较后选用，如旋转探针中探无此类型，故无法选用； * IAC Confidential IACP普通探针选用一览表