纳米颗粒分析仪-ANTPedia.PDFVIP

纳米颗粒分析仪 SZ-100V2 系列 以先进的技术简单而精确地呈现纳米粒子尺寸及分散体系的稳定性，为您开启纳米科技前进之门！ SZ-100V2系列纳米粒度分析仪 纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质 以获得更新、更好、更先进的材料和产品。 为了得到效率更高性能更好的产品，并减少能量的消耗， 简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！ 粒径测量范围 0.3nm ~ 10μm SZ-100V2 系列采用动态光散射原理(DLS) 测量粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量， 不论浓度是ppm 级还是高达百分之几十，均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极 为方便。 Zeta 电位测量范围−500 ~ +500mV 使用HORIBA 独创的微量样品池，样品量仅需100 µL。通过Zeta 电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。 Zeta 电位越高意味着分散体系越稳定，对于配方研究工作意义重大。 3 7 分子测量范围 1×10 ~ 2×10 通过测量不同浓度样品的静态散射强度并通过德拜记点法计算绝对分子质量(Mw) 和第二维利系数(A )。 2 SZ-100V2 系列超高的智能化和学习能力可以快速为您确定纳米粒子的特性！ ●SZ-100V2 系列可测量的样品浓度范围很广，所以几乎无需对样品进行稀释和其他处理。独特的双光路系统(90°和173°) 设计，既能对高浓度样品进行测量，如 釉浆和颜料，也能测量低浓度样品，如蛋白质和聚合物。 ●将表征纳米粒子的三大参数的测量融于一体：粒子直径、Zeta 电位和分子量。 ●HORIBA 开发的一次性Zeta 电位测量样品池可杜绝样品污染。专用超微量样品池( 最小容量100 µL) 简单易用，且适合分析稀释的样品。 ●HORIBA 研发的Zeta 电位专用石墨电极，可用于测量强腐蚀性的高盐样品。 SZ-100V2 轻松测量 将样品注入样品池，然后将样品池放入仪器 紧凑的机身设计使得在各种实验室环境下安装成为可能 ◎HORIBA 独创的光学系统 粒径测量原理 高灵敏性的光学元件 使用动态光散射法实现准确而快速的粗径测量的关键是使用高能的激光光源和灵敏的探测器。 SZ-100V2 采用动态光散射技术测量粒径，通过测量粒子的散射光强度随时间的波动。纳米粒子的布 HORIBA 使用绿色激光光源。散射光强度与激光波长的四次方成反比，因此使用绿色激光作为 朗运动引起光强的波动，对其进行统计分析可与粒子的扩散相联系。由于布朗运动的激烈程度与粒径 光源将比使用红色激光获得更强的信号强度( 波长更短)。同时采用对绿色激光更加敏感的光电 大小显著相关，从而可以建立粒径与散射光强度波动的关系。采用SZ-100V2 将使得此种测量技术更 倍增管(PMT)，而不是雪崩式二极管(APD)。此外，与APD 相比PMD 的死时间更短，因此动 快速可靠。 态范围更宽。 执行标准