igbt模块认证测试规范v20.pdfVIP

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2020-05-14 发布于未知
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igbt模块认证测试规范v20.pdf

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测试部规范文件测试部测试规范规范编码：本：V2.0 密级：机密英威腾电气股份有限公司测试部生效日期：2011.3 页数： 40 页 IGBT 模块认证测试规范拟制：张广文日期： 2011-03-07 审核：姜明日期：__________ 批准：董瑞勇日期：__________ 测试部规范文件更改信息登记表规范名称：IGBT 模块认证测试规范规范编码：版本更改原因更改说明更改人更改时间新拟制测试项目，升级原测 V2.0 规范升级张广文 2011.3.7 试项目内容及标准。评审会签区：人员签名意见日期董瑞勇吴建安唐益宏林金良张波第 2 页共 41 页测试部规范文件目录 1. 目的4 2. 范围4 3. 定义4 4. 引用标准5 5. 测试设备6 6. 测试环境6 7. 测试项目7 7.1 规格参数比对7 7.2 封装结构测试8 7.2.1 封装外观检查8 7.2.2 封装外形尺寸测试9 7.2.3 基板平整度测试9 7.2.4 封装内部结构测试11 7.3 晶体管电特性测试12 7.3.1 集-射极耐压 VCES 测试 12 7.3.2 IGBT 集-射极饱和压降 VCE(sat)测试13 7.3.3 IGBT 栅-射极阀值电压 VGE(th)测试14 7.3.4 IGBT 内置二极管正向压降VF 测试 15 7.4 Ices 和 IR 测试 16 7.5 绝缘耐压测试18 7.6 高温电应力老化测试20 7.7 高低温老化测试21 7.8 NTC 热敏电阻特性测试22 7.9 驱动波形测试22 7.9.1 驱动波形质量测试23 7.9.2 开通关断时间测试25 7.9.3 驱动电压幅值测试26 7.9.4 死区时间测试27 7