多晶硅片外观检验2教学幻灯片.pptVIP

LOGO 多晶硅片外观检验 品质管理部宣 浙江钱江明士达光电有限公司 多晶硅片外观主要缺陷 项目 内容 易检方位 晶体 微晶、雪花晶、分布晶 硅片正面 完整度 废片、缺角、缺口、裂纹、 侧面 表面 线痕、崩边、污片、穿孔、凹坑、色差 硅片正面、侧面 1. 穿上工作服，按规定戴上手套、口罩、头罩。 按规范穿戴 戴两层手套 3. 检查四边，挑选：缺口、缺角、碎片、废片、崩边、裂纹。 检查四边 挑出不良品 4. 将硅片展开：整体检查硅片边缘的线痕、崩边、污片情况。 展 开 污 片 5. 扇形打开，逐片检验硅片正反面：微晶、雪花晶、分布晶线痕、污片、凹坑、崩边、裂纹、穿孔、色差、废片(注意：此环节一定要每一片从上而下，自左而右认真检验，25PCS一面检验完毕，再打开检验另一面） 微 晶 展开，逐片检验 6.左手执片，右手撮动硅片数数，25PCS1个单位，数好放置于备有太阳能级垫片纸的洁净泡沫盒内。 数 数 25PCS放置 7.检验合格后4个25片，放一打，再整体检验四边，有无崩边、缺口等，数量补齐放置盒中。 复检四边 挑 出 崩 边 100PCS 8.套上塑料袋、加上白卡和外袋。 套上内层PVC袋 放入装有白卡的外袋 LOGO *