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Data Transmission Technology T.M.D.S : Transition Minimized Differential Signaling Silicon Image Panel Link L.V.D.S : Low Voltage Differential Signaling IEEE1596.3 TIA/EIA-644-1995 L.D.I L.V.D.S. Display Interface by National Semiconductor Corp. G.V.IF : Giga-bit Video Interface LVDS是Low Voltage Differential Signaling的縮寫,同TMDS一般,我們亦可將LVDS技術將之簡化成為一種編碼/解碼技術。與TMDS的技術不同的是,其最主要將R.G.B.24位元的色彩資料及4位元顯示器的控制資料(horizontal and vertical clock signals, data enable signal, and control signal ),一共是28位元的資料轉換成4對7 位元的資料封包,再藉由四對( 100Ω )遮蔽絞線( STP-Shielded Twisted Pair )的差分信號線來傳輸電氣訊號。當然,LVDS除了4對絞線之外,還有一對絞線是用來傳遞像素時脈用。因此,上述傳輸線的信號傳輸速率是像素時脈乘7倍的傳輸速率(單位為bpp,bits per pixel)而非是TMDS的10倍,如此,線材及連接器之高頻傳輸要求不若TMDS嚴謹,但是LVDS卻比TMDS多一對遮蔽絞線,高頻的瓶頸因而轉到多工處理的IC上,如圖 2.3所示。此外,LVDS的實體層(Physical Layer)定義是依循IEEE1596.3及ANSI/TIA/EIA-644標準。LVDS視訊傳輸的IC?s是依於下列公司的代表產品;National Semiconductor Corp. with FPD Link; Texas Instruments, Inc. with FLATLINK; THine Microsystems, Inc. with the THC63LVDXXX series 量測治具簡介 數位視訊線材測試系統 (DVI測試治具) Wi-SFDD-001,見圖 ,是設計用來連接DVI相關待測物及所選用的測試儀器(如TDR及NA等)。目前本治具是用來測試DVI-Digital 或DVI-Digital/Analog之數位部份,也就是兩對(2 Links)的TMDS的數位視訊。她的型狀是設計成八角型,並在每一側邊上有2個SMA連接器(即一對TMDS差動訊號)。這種邊角的SMA設計可有效的降低TDR Launch現象對量測的損害。惠盈建議當發現DVI Socket或SMA 連接器有鬆動時,請洽惠盈量測客戶支援部予以更換。電性規格如下: Single End Trace Impedance : 50 ? 3 ? Intra-pair Skew (TDR 100ps Risetime): Maximum of 3ps Durability : 1000cycles 數位視訊線材測試系統 (DFP 測試治具) Wi-SFDD-002,見圖 ,是設計用來連接DFP相關待測物及選用的測試儀器(如TDR及N/A等)。目前本治具是用來測試DFP之數位部份,也就是一對(1 Link)的TMDS的數位視訊。她的型狀是設計成八角型並在每一側邊上有2個SMA連接器(即一對TMDS差動訊號)。這種邊角的SMA設計可有效的降低TDR Launch現象對量測的損害。惠盈建議當發現DFP Socket或SMA 連接器有鬆動時,請洽惠盈量測客戶支援部予以更換。電性規格如下: Single End Trace Impedance : 50 ? 3 ? Intra-pair Skew (TDR 100ps Rise time ): Maximum of 3ps Durability : 1000cycles 數位視訊線材測試系統校正治具 Wi-SFDD-003,見圖 ,主要是用來提供量測數位視訊線材儀器校正功能。諸如: l?? 網路分析儀傳輸校正 (Near Thru Far Thru) l?? 網路分析儀反射校正 (Open, Short Single-end Load) l?? TDR Normalization (Short Single-end Load) l?? TDR 電壓位移校正(Offset) 圖 數位視訊線材手動測試系統校正治具 她的形狀也是設計成八角型,並在每一側邊上有2個SMA
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