粉体工程第一讲粒度表征及粒度分布.pptVIP

2.4.1 粒度频率分布 ? 频率：颗粒总数为 N （总质量 W ），某一颗粒大小 (D p ) 或某一粒级大小范围 ( Δ D p ) 的颗粒数为 n p 或质 量为 w p ，则在样品中出现的百分含量即为频率 ( ％ ) 。 ? 粒度的频率分布：上述频率与颗粒大小的关系称为 频率分布。可用列表法和图示法表示。图示法又分 为直方图和分布曲线两种。 ? ? ? ? ? ? % 100 % 100 % 100 ? ? ? ? ? ? ? W f N f N f w D n D n D p p p p p p 例题： ? 设用显微镜观察 N 为 300 个颗粒的粉体样品。 经 测定最小颗粒的直径为 1.5 μ m ，最大颗粒 的直径为 12.2 μ m. 表 1 颗粒大小分布数据 图 1 颗粒频率分布的等组距直方图及分布曲线图 2.4.2 粒度累积分布 ? 把颗粒大小的频率分布按一定方式累积，便 得到相应的累积分布。同样可用 列表法 和 图 示法 表示。 筛下累积 ( 负累积 ) ? 按不同累积方式 筛上累积 ( 正累积 ) 筛下累积分布 D(D p ) 筛上累积分布 R(D p ) 表 2 颗粒的累积分布 图 2 筛上和筛下累积分布直方图和曲线图 满足的条件 : ? D(D p )+R(D p )=100% D(D min )=0 ---- 小于最小颗粒粒径的筛 下累积分布为 0 （对于出现 0 点的情况） D(D max )=100% R(D min )=100% R(D max )=0 累积曲线特点： ? 正负累积特性曲线互相对称，若绘制在一 张图纸上，它们必交于产率为 50% 的点上。 即可以求中位径 D 50 。 ? 正累积粒度特性曲线起始点必交于纵坐标 上产率为 100% 的点（最高点）；负累积粒 度特性曲线必交于纵坐标上产率为 0 的点 （坐标原点或最低点）。 （对于出现 0 点的 情况） 粒级 /mm 质量 /Kg 频率 /% 正累积 /% 负累积 /% 12~16 22.5 15 8~12 30.0 20 4~8 45.0 30 2~4 22.5 15 0~2 30.0 20 合计 150 100 例题 2 粒级 /mm 频率 /% 负累积 /% 正累积 /% ＜ 20 6.5 20~25 15.8 25~30 23.2 30~35 23.9 35~40 14.3 40~45 8.8 ＞ 45 7.5 6.5 22.3 45.5 69.4 83.7 92.5 100 93.5 77.7 54.5 30.6 16.3 7.5 0 粒级 /mm 频率 /% 正累积 /% 负累积 /% ＞ 45 7.5 40~45 8.8 35~40 14.3 30~35 23.9 25~30 23.2 20~25 15.8 ＜ 20 6.5 7.5 16.3 30.6 54.5 77.7 93.5 100 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 0 10 20 30 40 50 60 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 0 10 20 30 40 50 累积曲线的作用： 1. 可确定任何指定粒度的相应累积产率；或由 指定的累积产率查得相应的粒度。 2. 可以求出任意粒级的产率，即某一粒级 （ d 1 -d 2 ) 产率为直径 d 1 和 d 2 的纵坐标的差值。 3. 求出物料中最大块直径 d max 。（一般为筛下 ( 负 ) 累积粒度曲线上产率 95% 相对应的筛孔 尺寸）。 粉体工程学 第一章 粉体的表征与测量 第一章 粉体的表征与测量 ? 粉体基本概念及粒度表征 ? 粒度及粒度分布概念，粒度的表示方法与颗粒 形状 ? 粉体粒度分布 ? 粒度分布函数 ? 粉体粒度的测量方法 1 、 粉体的基本概念 ? 粉体的粒度 即粉体颗粒的大小，是颗粒在 空间范围所占大小的线性尺度。一般用 “目”或“微米”来表示。 ? 粉体粒度分布 即粉体颗粒大小在粉体颗粒 群中所占的比例。 2 、粉体粒度表征 一、颗粒粒度的表示方法； ? 单颗粒 ? 颗粒群 二、颗粒形状分析； 直径 D 直径 D 、高度 H ？ 2.1 单颗粒粒度表示方法 人为规定了一些所谓尺寸的表征方法 ? 三轴径 ? 统计平均径 —— 定向径 ? 当量径 ? 其他； 三轴径 — 长形颗粒 类型 名称 计算方法 算术 平均 径 二轴平均径 ( l + b )/2 三轴平均径 ( l + b + h )/3 几何 平均 径 表面积平均径 ( lb ) 1/2 体积平均径 ( lbh ) 1/3 调和平均径 （比表面积平 均径） 3(1/ l +1/ b +1/ h ) -1 h b l 1 1 1 3 ?