低温强磁场系统(LTHM.docVIP

低溫強磁場系統(LTHM VTI) 儀器簡介 一、系統規格及型號： (1)機型：Oxford VTI 51/30 (2)實驗溫度範圍：1.3 K ~ 4.2 K（超過此範圍，請與工程師討論可行性） (3)實驗磁場範圍：0 ~ 14 T (4)可提供之量測：低溫高磁電特性量測（包括電阻及I-V特性） 二、系統外觀: 　　 (結構如下圖所示) 　 三、使用功能說明: VTI (Variable Temperature Inserts) 經由液態氦做為冷媒，可將系統溫度降至1.3 K。系統本身配有超導磁鐵，可提供0 ~ 14 Tesla 之磁場。可以量測在低溫強磁場下樣品電特性的改變。 分析項目 檢測說明 1 電阻的溫度效應（不含磁場） 測量樣品對溫度的變化溫度範圍（30 K ~ 1.3 K） 2 I-V量測 測量樣品對溫度的變化溫度範圍（30 K ~ 1.3 K） 3 磁電阻量測 在磁場中量測樣品電阻的變化，可以量測兩線電阻及四線電阻，磁場範圍0~14T，溫度範圍1.3 ~ 4.2 K 4 磁場中I-V量測 在磁場中，測量樣品的I-V特性，溫度範圍1.3 ~ 4.2 K 分析技術特性: 可提供量測儀器： Lock-in Amplifier SR830 Dual-Channel System SourceMeter Instrument Keithley 2602 61/2-dig