Q_0500SGC 002-2020微波波段固态电介质材料介电特性测试方法.pdf

ICS 31.020 L 90 Q/0500SGC 山东国瓷功能材料股份有限公司企业标准 Q/0500SGC 002—2020 微波波段固态电介质材料介电特性测试方法 —分离式介质谐振腔法（室温） Test method for dielectric properties of solid-state dielectric materials at microwave frequency using Split Post Dielectric Resonators method （room temperature） technique 2020- 04 -03 发布 2020- 04 -10 实施 山东国瓷功能材料股份有限公司 发 布 Q/0500SGC 002—2020 前 言 本标准的编写是按照GB/T1.1-2009 《标准化工作导则 第一部分：标准的结构与编写》的有关规定 进行。 本标准参照 IEC 61189-2-721 《Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies –Part 2-721: Test methods for materials for interconnection structures – Measurement of relative permittivity and loss tangent for copper clad laminate at microwave frequency using split post dielectric resonator》的部分条款。 本标准由山东国瓷功能材料股份有限公司技术中心提出并归口。 本标准起草单位：山东国瓷功能材料股份有限公司。 本标准主要起草人：宋锡滨、艾辽东、杨宏伟、奚洪亮。 本标准首次发布。 I Q/0500SGC 002—2020 微波波段固态电介质材料介电特性测试方法 —分离式介质谐振腔法（室温） 1 范围 本规定规定了以E8362C 型矢量网络分析仪和分离式介质谐振腔（SPDR）在微波频率段（1.1 GHz-20 GHz）测量介电材料室温下的介电特性方法。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 SJ/T 11067-1996 红外探测材料中半导体光电材料和热释电材料常用名词术语。 IEC 61189-2-721 （Edition 1.0 2015-04 ）：Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies –Part 2-721: Test methods for materials for interconnection structures –Measurement of relative permittivity and loss tangent for copper clad laminate at mic