X射线光电子能谱(XPS)对纳米复合物地表面分析报告.pdfVIP

实用标准文案 X 射线光电子能谱 (XPS) 对纳米复合物的表面分析 Efrat Korin,*, ? Natalya Froumin, ?, §and Smadar Cohen ?, §,∥ ?avram Goldstein 和格伦 - 星生物技术工程部，工程? department of Materials ，§the Ilse Katz nanoscale 协会科技，医药和∥ regenerative 干细胞（ rMSCs ）研究中心，本古里安 大学的内盖夫 84105 茶，啤酒舍瓦，以色列 摘要：自组装单分子自发组成的连接通过非共价相互作用的纳米复合物最近成为 通用的替代传统的药物控释系统由于其独特的生物特性（反应，动力学，等）。 这种纳米复合物的表征通常包括粒度分布、 表面电荷、 形态、药物包封 E? 效率， 并验证 ? 阳离子标记组件使用共存研究在纳米复合物的共存。不常见的是 coassembled 纳米复合双 ? 不同组件之间的分子间的相互作用的直接检验，特 别是在吸湿组件组成的纳米复合物， 因为方便的方法仍缺乏。 在这里， 我们提出 了一个详细的实验协议， 用于测定表面组成和化学键的 X- 射线光电子能谱 （XPS） 干燥后的沉积物吸湿性样品隔夜在特高压。我们应用这个方法来研究二元钙 siRNA 纳米复合物和透明质酸硫酸三元纳米复合物的表面化学（已经） - 钙的 siRNA ，沉积在晶片。值得注意的是，我们发现，该协议可以实现与传统的 X 射 线光电子能谱仪对沉积纳米复合物的表面组成和相互作用的研究， 它只需要一个 相对少量的纳米悬浮液。 关键词： XPS、滴沉积、表面特性、药物载体、纳米复合物 ■简介 文档 实用标准文案 X 射线光电子能谱（ XPS），也被称为电子光谱化学分析（ ESCA），是一 个敏感的光谱定量分析技术，对材料的表面化学。用一束 X 射线等典型铝钾或 镁αK α源照射材料得到了 XPS 光谱，同时测量的动能和电子，从被分析的材料 的表面原子逃逸数。 1 用电子从表面逸出和结合能的强度（从测量的动能记录计 算），得到的 XPS 谱图。在 XPS 表面分析中， 为了获得光谱中的最大电子计数， 需要一个超高真空系统，因为分析仪通常离 X 射线照射表面只有一米远。超高 真空表面分析技术定性和定量地估计元素的元素组成， 原子序数的锂和以上， 除 了确定类型的化学键和氧化状态的材料表面。 XPS 已广泛应用于研究各种各样的 领域、表面化学，如电子取证， 2 、生物学等等。然而，由于传统的 XPS 必须保 持特高压环境，这种方法仅限于在研究半导体的表面固体样品和重点，薄 ? LMS 和涂层（例如，金属 / 金属氧化物 / DNA ? LM ），3- 5 biosensors 6 ，干燥粉末药 品的材料。 7- 14 在过去的十几年里， 由多组分纳米复合材料制成的自组装纳米粒子被用于控 制药物的传递。对多组分纳米复合材料的形成及其特征的验证通常是通过对净表 面电荷和颗粒大小的变化来进行的，同时也对该治疗剂的诱捕效率进行了评估。 只有少数出版物通过研究它们表面的化学特征， 通过获取表面成分的信息和参与 NP 形成的键类型来验证 NPs 中不同组分的共存。 15 、16 主要是大量的化学分析， 如核磁共振波谱 (NMR) 和傅立叶变换红外光谱 (FTIR)吸收光谱，通过检测特定的 官能团来确定纳米复合物中不同组分的存在。