近代光信息处理第2章经典光学信息处理复习课程.pptVIP

光学信息处理 带通滤波器 带通滤波器用于选择某些频谱分量通过，阻挡另一些分量。带通滤波器形式很多，这里仅举几例。 例1: 正交光栅上污点的清除 设正交光栅的透过率为to(x, y)，其上的污点为g(x, y)，边框为?(x, y). 输入面光振幅为 t (x, y) = to g ? 设To、G、?分别是to、g、?的频谱，则频谱面得到 T = To*G*? 。由于to是正交光栅，因而它的频谱To为sinc函数构成的二维阵列，G、?分别为一阶贝塞尔函数。由于g 的宽度小于?的宽度，所以G的尺寸大于?。 光学信息处理 采用带通滤波器：在每一个阵列点位置开一个通光小孔，其孔径应选择恰好使?通过，而使G的第一个暗点被阻挡。滤波后可在像面上得到去除了污点的正交光栅。 带有污点的正交光栅 零级频谱函数的一维剖面示意图 光学信息处理 例2：缩短光栅的周期 采用带通滤波狭缝，可有选择地允许光栅的某些频谱分量通过，以改变光栅的周期。如允许正、负一级通过，光栅的周期缩短一倍；如允许正、负二级和零级通过，光栅的周期也缩短一倍。 例3：抑制周期性信号中的噪声 如蛋白质结晶的高倍率电子显微镜照片中的噪声是随机分布的，而结晶本身却有着严格的周期性，因而噪声的频谱是随机的，结晶的频谱是有规律的点阵列。用适当的针孔阵列作为滤波器，把噪声的频谱挡住，只允许结晶的频谱通过，可有效地改善照片的信噪比。 光学信息处理 方向滤波器 例1：印刷电路中掩模疵点的检查 印刷电路掩模的构成是横向或纵向的线条[见图(a)]，它的频谱较多分布在x、y轴附近。而疵点的形状往往是不规则的，线度也较小，所以其频谱必定较宽，在离轴一定距离处都有分布。可用图(b)所示的十字形滤波器将轴线附近的信息阻挡，提取出疵点信息，输出面上仅显示出疵点的图像，如图(c)所示。 光学信息处理 例2：组合照片上接缝的去除 航空摄影得到的组合照片往往留有接缝，如图(a)所示。接缝的频谱分布在与之垂直的轴上，利用如图(b)所示的条形滤波器，将该频谱阻挡，可在像面上得到理想的照片，如图(c)所示。 光学信息处理 例3：地震记录中强信号的提取 由地震检测记录特点可知，弱信号起伏很小，总体分布是横向线条，如图(a)所示，因此其频谱主要分布在纵向上。采用图(b)所示的滤波器，可将强信号提取出来，[见图(c)]，以便分析震情。 光学信息处理 2、相位型滤波器——相衬显微镜 相位物体：物体本身只存在折射率的分布不均或表面高度的分布不均。 相位型滤波器：只改变傅里叶频谱的相位分布，不改变它的振幅分布，其主要功能是用于观察相位物体。 当用相干光照明时，相位物体各部分都是透明的，其透过率只包含相位分布函数 to(x, y) = exp[ i ?(x, y)] 用普通显微镜将无法观察这种相位物体。只有将相位信息变换为振幅信息，才有可能用肉眼直接观察到物体。1935年策尼克(Zernike)发明了相衬显微镜，解决了相位到振幅的变换，因此而获得诺贝尔奖。 光学信息处理 已知当相位的改变量 ? 小于1 弧度时，其透过率函数可做如下近似： to(x, y) = exp[ i ?(x, y)] ≈ 1 + i ?(x, y) 未经滤波时，像的强度分布为 I = to to* = ( 1 + i ? )( 1 - i ? ) ≈ 1 根本无法观察到物体的图像，像面上只是一片均匀的光场。 当在滤波面上放置一个相位滤波器，仅使物的零级谱的相位增加 ?/2(或3?/2)，则可使像的强度分布与物的相位分布成线性关系。由此可得物的频谱 T(u, v) = F {to(x, y) } = F {1 + i ?(x, y) } = ? (u, v) + i ?(u, v) 式中第一项为零频，第二项为衍射项。 光学信息处理 频谱面放置相位滤波器，其后的光场分布为 T’(u, v) = ? (u, v) exp(± i?/2) + i ?(u, v) = i [±? (u, v) + ?(u, v) ] 像面复振幅分布: t’=F–1{T’(u, v)} = i[±1 + ?(?, ?)] 像的强度分布为 Ii = | t’ |2 = |±1 + ?(?, ?)}|2 = 1 ± 2?(?, ?) 可见，像强度 Ii 与相位 ? 呈线性关系，也就是说像强度随物的相位分布线性地分布，这就实现了相位到振幅(强度)的变换。式中的