世界级质量管理工具谢宁DOE课件.ppt

? 用途： 用于装配操作，可拆卸的部件对比 ? 适用条件： 通过多变量分析发现重要的变量存在于部件 对部件时；或在同样的运行条件下，同时存在好坏时， 直接使用部件搜索。 ? 试验样品： 2 个， 1 “好”和 1 “坏”，两个部件的差异 应该尽可能的大，考虑两种极端情况。 ? 原理： 交换理论，两个相同部件的对换，绿 Y 是否被带 走 ? 试验具体步骤： 1 、取样： 1 个最好的样品和 1 个最差的样品，差异尽量大， 有利于重要的因子的捕捉。 2 、分别拆卸 / 重装 2 个样品部件 2 次，测量绿 Y 是否重现。 3 、显著性检验，两个样品之间的差别是否显著。 ? 3 次绿 Y 的输出都是好的样品高于差的样品，之间没有重 叠交叉。 ? D/?≥1.25 ，才进行下一步；低于 1.25 则说明问题在与部件 的拆卸 / 重装过程。（ D 和?具体应用时讲解） 4 、子部件交换，测量每次交换后两个部件的输出。 5 、使用 判断极限 ，如果输出超出了判断极限，则为重要因 子。（判断极限，具体应用时讲解） 6 、进行析因分析，量化因子的重要性和相互作用。 某厂生产的振荡器的时间延迟，同时存在高值（ H ）和低值（ L ）。通 过拆卸 / 重装，结果如下： 阶段一 高值组件（ H ） 低值组件（ L ） 配置 结果（ ms ） 配置 结果（ ms ） 初始 所有组件，高 13 所有组件，低 34 第一次拆卸 / 重装 所有组件，高 16 所有组件，低 38 第二次拆卸 / 重装 所有组件，高 15 所有组件，低 35 部件 配置 结果（ ms ） 配置 结果（ ms ） 阶段二 A ：晶体 A L R H 16 A H R L 19 B ：微处理器 B L R H 16 B H R L 35 C ：晶体管 C L R H 14 C H R L 33 D ：电容 C2 D L R H 15 D H R L 37 E ：电容 C1 E L R H 16 E H R L 16 阶段三 A 和 E A L E L R H 32 A H E H R L 17 1 、根据一阶段图表进行显著性判断： D/?≥1.25 D= 高中值—低中值 = 高中值（ 34 、 38 、 35 ）—低中值（ 13 、 16 、 15 ） =20 ?=[高中值（ 34 、 38 、 35 ）取值范围 + 低中值（ 13 、 16 、 15 ）取值范围 ]/2=3.5 D/?=20/3.5＞ 1.25 ，这说明部件的差异不在组装过程，而是在子部件的 差异。 2 、进行第二阶段的部件互换，根据阶段一得数据做判断极限： 高值范围 = 高中值±2.776?/1.81=35 ± 2.776*3.5/1.81=35 ± 5.37 低值范围 = 低中值±2.776?/1.81=15 ± 2.776*3.5/1.81=15 ± 5.37 3 、做曲线图，看哪些子部件的交换导致输出超出了判断极限，即为重要 因子 4 、做析因分析 通过上表，可以算出 A 的主效应 =[(35+17.5) — （ 15.5+17.5)]/2=10 E 的主效应 =[(35+17.5 ） — （ 15.5+17)]/2=10 AE 之间的交互效应 = [(35+15.5 ） — （ 17.5+17)]/2=8 成 对 比 较 复杂的东西简单化，统计的东西非理论化 谢宁 DOE 概述 DOE ： 试验设计是有目的的改变过程输入因素 （ X ） 以观测相应的输出变化 （ Y ） 的行动。 Y=F(X1,X2,X3……Xn) 什么是 DOE ？ ? DOE 是一种质量工具，要解决的变量 X 与 Y 的关系，如果逆向知道问 题 Y ，如何找出 X1 ， X2 ，X3……..？ design of experiment X ：变量 变量是有害的 Cp 和 Cpk 表征变量分布 所有变量的都很重要？ 需要找出和控制 ? DOE 分类：经典 DOE 、田口 DOE 和 谢宁 DOE 8/2 原则 80% 的问题 （ Y ） 是由哪些 20% 的原 因 （ X ） 造成的 帕累托定律 原理 目的 简单，有效 强