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- 2020-07-16 发布于福建
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激光网讯:中科院院士、中国科学技术大学
教授郭光灿领导的中科院量子信息重点实验室
孙方稳研究组,利用光学超分辨成像技术,实现
了对单个自旋态的纳米量级空间分辨率测量和
操控,其成像精度达到4.1纳米,研究成果日前
发表在《自然》子刊《光:科学与应用》上。
随着科学技术的不断发展,研究对象的尺度
越来越小,甚至达到单个电子和质子的程度。为
了解微纳尺度物体的物理属性及动力学过程,需
要纳米尺寸的探测器,纳米尺度的固态量子测量
技术因此得到快速发展。但实现高空间分辨率的
电磁场等物理量测量,不仅需要高精度的成像和
分辨,还需要高精度量子态操控。而通常的光学
成像受到衍射极限的限制,分辨率只能达到约
300纳米。
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