表面化学分析 术语 第2部分 扫描探针显微术(技术标准).pdfVIP

GB/T ×××××—×××× 表面化学分析 词汇 第2 部分 扫描探针显微术 1 范围 GB/T xxxx的本部分界定了表面化学分析中扫描探针显微术领域的术语。 2 缩略语 不同场合中可以表述为显微术（microscopy）或显微镜（microscope）。关于缩写或其中关键词的 定义，请见括号指示的参考条目。 3D-PFM vector PFM 矢量压电响应力显微术 （见 7.21） AFM atomic-force microscopy 原子力显微术（见 4.2） amplitude modulation atomic-force AM-AFM 调幅原子力显微术 （见 7.1） microscopy amplitude modulation Kelvin-probe-force 调幅开尔文探针力显微术 （见 7.2） AM-KPFM microscopy 自注：原文在 force 前漏 probe apertureless near-field scanning optical 无孔径近场扫描光学显微术 （弃用）（见 ANSOM microscopy （deprecated ） 4.36） apertureless scanning near-field optical 无孔径扫描近场光学显微术 （弃用）（见 ASNOM microscopy （deprecated ） 4.36） BEEM ballistic-electron emission microscopy 弹道电子发射显微术（见 6.8） BEES ballistic-electron emission spectroscopy 弹道电子发射谱术（见 6.8） CFM chemical-force microscopy 化学力显微术 （见 4.3） CITS current-imaging tunnelling spectroscopy 电流成像隧道谱术 （见 4.5） CPAFM conductive-probe atomic-force microscopy 导电探针原子力显微术 （见 4.4） CRAFM contact resonance atomic-force microscopy 接触共振原子力显微术 （见 7.4） CRFM contact resonance force microscopy 接触共振力显微术 （见 7.4） DFM dynamic-force microscopy 动态力显微术 （见3.6 ） 1 GB/T ×××××—×××× DMM displacement modulation microscopy 位移调制显微术 DTM differential-tunnelling microscopy 微分隧道显微术 EC-AFM electrochemical atomic-force microscopy