电子元器件可靠性老化筛选规定.docVIP

PAGE 1 PAGE 7 电子产品及元器件可靠性老化筛选规定 范围 为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准。 本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检查、处理。剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性。 本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定。 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范。然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。 GB/T 2828-87 抽样检验标准 老化筛选项目及条件 3.1 半导体器件、集成电路 低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度－25±3℃的低温箱中，保持4h，常温下测试电参数。 高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度＋125±3℃的高温箱中，保持4h，常温下测试电参数。 3.2 继电器 低温运行：将继电器置于温度－25±3℃的低温箱中，保持1h，通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。 高温运行。将继电器置于温度＋70±3℃的高温箱中，保持1h，通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以(2～5)次/s的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。 注: 以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施。 筛选检查 4.1 文件编制 元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。 4.2 检验种类 对进行老化的元器件实行全检。 4.3 检验电性能的项目 4.3.1 电阻器 2006-07-08发布 2006-07-28实施4.3.1.1 电阻器的额定功率 2006-07-08发布 2006-07-28实施 Q/HSG 462-2006电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中，当大气压力为750±30mmHg，在产品标准中规定的温度下，长期连续负荷所允许消耗的最大功率。 Q/HSG 462-2006 所选用电阻的额定功率应是该电阻实际承受功率的1.5～2倍。 4.3.1.2 电阻器所用材料及代表符号 电阻器所用材料及代表符号见表1。 表1 电阻器所用材料及代表符号 材料 碳膜 金属膜 金属氧化膜 氧化膜 合成膜 线绕 有机实芯 无机实芯 沉积膜 符号 T J YG Y H X S N C 4.3.1.3 电阻器色圈标志代表的意义 电阻器色圈标志代表的意义见表2。 表2 电阻器色圈标志代表的意义 颜色 标志及代表意义 第一色圈代表有效数字 第二色圈代表有效数字 第三色圈代表乘数 第四色圈代表允许偏差 第五色圈代表需要时作第三位有效数字 示图 黑 0 0 100 ╱ 0 棕 1 1 101 ±1％ 1 红 2 2 102 ±2％ 2 橙 3 3 103 ╱ 3 黄 4 4 104 ╱ 4 绿 5 5 105 ╱ 5 蓝 6 6 106 ╱ 6 紫 7 7 107 ╱ 7 灰 8 8 108 ╱ 8 白 9 9 109 ╱ 9 金色 ╱ ╱ 10-1 ±5％ ╱ 银色 ╱ ╱ 10-2 ±10％ ╱ 无色 ╱ ╱ ╱ ±20％ ╱ 4.3.1.4 电阻器允许偏差的标志符号 电阻器允许偏差的标志符号见表3。 表3 电阻器允许偏差的标志符号 允许偏差（%） ±0.05 ±0.1 ±0.25 ±0.5 ±1 ±2 ±5 ±10 ±20 ±30 标志符号 W B C D F G J K M N 4.3.2 电位器 电位器在旋转时，其相应的阻值依旋转角度而变化，变化规律有三种形式见图1。 X──为直线式 D──为对数式 Z──为指数式 图 1