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- 2020-07-31 发布于浙江
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钯-硅薄膜表面偏析的研究Surface segregation in Pd-Si thin film
项目成员:陈煜 邹永恒 杨士栋 黄立豪
指导老师:王江涌教授
报告人:陈煜
1
应用价值
研究背景
项目内容
研究成果
目录
2
研究背景
Pd-Si薄膜
Pd-Si薄膜:金属硅薄膜:
在半导体器件领域的广泛应用(欧姆接触、肖特基接触、互连线等)
在加工工艺中具有兼容性和制造简易性等优势
目前Pd-Si薄膜研究的主要方向:Pd-Si界面的化学键和反应、Pd-Si系统的相变等
Pd-Si薄膜表面偏析研究的意义:
更好的应用Pd-Si薄膜材料
薄膜材料的性能主要由材料成分、显微组织、相结构和界面状态所决定,而这些均与表面处理技术和工艺有关。因此,分析薄膜材料的上述因素与其性能、处理工艺之间的关系,是提高工艺水平、保证薄膜质量的重要途径。
Pd-Si薄膜
3
项目内容——理论理解及应用
修正的Darken模型
考虑薄膜尺寸效应约束条件
主要对Pd-Si薄膜系统的平衡态和动态表面偏析进行了模拟计算
4
项目内容——理论理解及应用
5
项目内容——修正的Darken模型
假设:
1.系统为封闭体系
2.表面区域有限而体相无限
3.原子可以在表相和体相之
间互相交换,以达到体系
能量最小
6
项目内容——修正的D
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