测试用射频屏蔽箱校准结构不确定度评定实例.docxVIP

附录C 校准结果不确定度评定示例 C1 屏蔽效能测量不确定度 C1.1不确定度来源 实际过程中由于存在人为因素，发射天线和接收天线之间的距离是变化的，信号发生器输出功率也存在变化，还有底面和墙面对发射天线和接收天线的影响，则屏蔽效能的不确定度分量为： (1) 校准过程中的连接及读数重复性所引入的不确定度u1； (2) 校准过程中信号发生器、功率放大器输出电平稳定度所引入的不确定度u2； (3) 接收机的线性度所引入的不确定度u3； (4) 校准过程中环境温度的变化所引入的不确定度u4； (5) 参考测量和实际测量过程之间发射天线相对接收天线距离误差所引入的不确定度u5； (6) 互耦：接收天线对墙面的镜像所引入的不确定度u6； (7) 互耦：接收天线对底面的镜像所引入的不确定度u7； (8) 互耦：发射天线对墙面的镜像所引入的不确定度u8； (9) 互耦：发射天线对底面的镜像所引入的不确定度u9； (10) 不同测试场地所引入的不确定度u10； C1.2 不确定度评定 C1.2.1校准过程中的连接及读数重复性所引入的不确定度 在相同测量程序、相同测试者、相同测量设备及被测物、相同距离条件下，在短时间 内重复测量，以符合测量重复性的要求。重复10次测量，屏蔽效能单位dB， 表C.1 屏蔽效能测量值 测量次数 屏蔽效能(dB) 1 53.6 2 59.5 3 56.3 4 55.9 5 52.1 6 54.3 7 60.5 8 53.9 9 61.2 10 58.3 则这10次测量的平均值实验标准差u1= S1 ==1.00dB C1.2.2 校准过程中信号发生器、功率放大器输出电平稳定度所引入的不确定度 由实验数据得到，测量过程中信号发生器输出电平稳定度为0.05dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布。k= 标准不确定度 u2 =0.05/=0.029dB C1.2.3 接收机线性度 由频谱分析仪指标说明书得到，线性度测量最大允许误差±0.13dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布k=，则 标准不确定度u3=0.13/=0.075dB C1.2.4 校准过程中环境温度的变化 假设校准过程中，实验环境温度偏差：±1oC，由文献2.2第46页温度对结果的影响公式可得误差半宽度为： (3) 设测量值落在该区间内的概率分布为均匀分布k = 标准不确定度 u4 = C1.2.5 参考测量和实际测量过程之间发射天线相对接收天线距离误差所引入的不确定度 (4) 发射天线和接收天线之间间隔距离为0.6m，使用米尺测量发射天线和接收天线之间的距离，经多次试验数据得到，参考电平和屏蔽效能测量过程之间距离最大误差为0.05m，相对于0.6m的相对误差为8.33%，则，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，k= 标准不确定度 u5 =0.72dB/=0.42dB C1.2.6 参考测量和实际测量过程之间发射天线相对接收天线增益变化引入的误差 由实验数据得到，参考测量和存在屏蔽体时测量过程之间，发射天线相对接收天线增益变化引入的误差约为1dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，k= 标准不确定度 u6 =1/=0.58dB C1.2.7 参考测量和实际测量过程之间，测量线缆位置变化造成的电磁场变化引入的误差 由实验数据得到，参考测量和存在屏蔽体时测量过程之间，测量线缆位置变化造成的电磁场变化引入的误差约为1dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，k= 标准不确定度 u7 =1/=0.58dB C1.2.8 互耦：接收天线对墙面的镜像所引入的不确定度 接收天线对墙面的镜像引起的误差，由文献2.2得到该值半宽为0.5dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，则标准不确定度 u8=0.5/=0.29dB C1.2.9 互耦：接收天线对底面的镜像所引入的不确定度 接收天线对底面的镜像引起的误差，由文献2.2得到该值半宽为0.5dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，则标准不确定度 u9=0.5/=0.29dB C1.2.10 互耦：发射天线对墙面的镜像所引入的不确定度 发射天线对墙面的镜像引起的误差，由文献2.2得到该值半宽为0.5dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，则标准不确定度 u10=0.5/=0.29dB C1.2.11 互耦：发射天线对底面的镜像所引入的不确定度 发射天线对底面的镜像引起的误差，由文献2.2得到该值半宽为0.5dB，设该值落在该区间内的概率分布为均匀分布，则标准不确定度 u11=0.5/=0.29dB C1.2.12不同测试