2019-分享教案-7微分干涉显微镜.pdf

§6.3 微分干涉金相显微术 在光学显微镜的发展过程中，相衬分析技术的发明成功，是近代显微镜技术中的重 要成就。我们知道，人眼只能区分光波的波长 （颜色）和振幅 （亮度），对于无色通明的生 物标本，当光线通过时，波长和振幅变化不大，在明场观察时很难观察到标本。相衬显 微镜利用被检物体的光程之差进行镜检，也就是有效地利用光的干涉现象，将人眼不可 分辨的相位差变为可分辨的振幅差，即使是无色透明的物质也可成为清晰可见。相衬镜 检法在装置上与明场不同，有一些特殊要求： 相衬镜检法是一种比较复杂的镜检方法，想要得到好的观察效果，显微镜的调试非 常重要。除此之外还应注意以下几个方面。 1． 光源要强，全部开启孔径光阑； 2 ． 使用滤色片，使光波近于单色。 微分干涉显微术 （Differential interference contrast DIC ）出现于上世纪60 年代，它 不仅能观察无色透明的物体，而且图象呈现出浮雕壮的立体感，并具有相衬镜检术所不 能达到的某些优点，观察效果更为逼真。 微分干涉显微术是利用特制的渥拉斯顿棱镜来分解光束。分裂出来的光束的振动方 向相互垂直且强度相等，光束分别在距离很近的两点上通过被检物体，在相位上略有差 别。由于两光束的裂距极小，而不出现重影现象，使图象呈现出立体的三维感觉。 在现代金相显微镜检验方法中，微分干涉相衬法（DIC ）是一种极具前途的分析检 验方法，是金相检验的一种强有力的工具，其特点主要为： 1.对金相样品的制备要求降低，对于某些样品，甚至只需抛光而不必腐蚀处理即 可进行观察。优点是可以观察到样品表面的真实状态，如将试样抛光后在真空下发生马 氏体相变，不用腐蚀就可以观察到马氏体的相变浮凸； 2.所观察到的表面具有明显的凹凸感，呈浮雕状，样品各组成相间的相对层次关 系都能显示出来，对颗粒、裂纹、空洞以及凸起等都能作出正确的判断，提高了金相检 验准确性，同时也增加了各相间的反差； 3.用微分干涉相衬法观察样品，会看到明场下所看不到的许多细节，明场下难于 辨别的一些结构细节或缺陷，可通过微分干涉进行反差增强而容易判断； 4.微分干涉相衬法基于传统的正交偏光法，又巧妙的利用了在渥拉斯顿棱镜基础 上改良的DIC 棱镜和补色器等，使所观察的样品以光学干涉的方法染上丰富的色彩，从 材料分析方法——光学金相显微镜 1 而可利用彩色胶卷或数码产品（CCD）进行彩色金相显微摄影。由于微分干涉相衬的效 果与样品细节的浮雕像以及色彩都是可以调节的，因而比正交偏光更为优越。 一、微分干涉相衬法所需部件 起偏器、检偏器、微分干涉相衬组件插板 （DIK 组件插板）以及补色器。 起偏器和检偏器是在对金相样品进行正交偏振光观察中必不可少的基本配套部件， 组装在明/暗场照明组件中，也是微分干涉相衬法必不可少的部件。起偏器是把光源变为 线偏振光；检偏器可以使满足干涉条纹的相干光进行干涉。 DIK 组件插板是微分干涉相衬法的核心部件，其上装配有以渥拉斯顿棱镜为基础 改良后的 DIC 棱镜。DIK 组件插板上有两个调节旋钮，其中较大的一个用来调节组成 DIC 棱镜的两个棱镜间的相对位置，使其厚度产生微小的改变从而引起光程或光程差的 微小变化，产生明显的干涉相衬效果；较小的一个用来调节DIC 棱镜的高低位置，以配 合不同倍数物镜后焦平面位置上的差异，从而确保DIC 观察视场中能获得均匀的照明。 补色器由石膏制成，插在线偏振光的光路中用以增加一个光波波长约 550nm 的光 程差，使干涉级序升高一级，保证视野中样品的不同组织细节获得丰富的色彩，从而利 于金相组织的观察和分析。 二、微分干涉相衬的基本原理 微分干涉相衬法的基本原理如图6.8 所示。由光源出射的照明光经起偏器后变为东 －西方向振动的线偏振光，第一次进入DIC 棱镜内部时分为寻常光o 和非寻常光e，这 两束光微微分开，而其振动方向相互垂直。当o 光和e 光传出棱镜时，两者具有一定的 光程差T ，这两束光通过物镜照射到样品上时，就有可能照射于不同的表面状态上。也 1 就是说，这两束光的折射率差异产生的