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Minority Carrier Lifetime
少子寿命原理及应用
黎晓丰
Minority Carrier Lifetime
圣-1.半导体简介
9■2.非平衡载流子及少子寿命
3.少子寿命影响因素
4.少子寿命的测试方法简介
■5.WT-2000的运用
Minority Carrier Lifetime
1.半导体( Semiconductor)
硅(S)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)等
■导电性介于导体和绝缘体之间(10
101092cm)
■电导率和导电型号对杂质和外界因素高
度敏感
Minority Carrier Lifetime
硅( Silicon)
Si):(Si):
si: (si: Si:
(si):(si):(s):
Tetrahedron
[Si, Ge, C, etc.
Φ金刚石结构,每个硅原子与四个相邻原子之间共用电子对形成共价键
硅原子相邻,形成正四面体结构
Minority Carrier Lifetime
能带( energy band)
■导带、价带、禁带宽度
载流子:电子(自由电子、 electron)、空穴
(hole)
乏四
电子带负电
空穴带正电
空穴
Minority Carrier Lifetime
掺杂
三■为得到一定的载流子浓度而掺入电活性
的杂质。
乏四
g■通常P型掺杂掺B;N型掺杂掺P。
Minority Carrier Lifetime
(Si: (Si):(Si:
::蜀
Si):(P):(Si):
:(si):(si):
:(s):(s):(s):
(a)
(e)
E
E Ec
Mir Niy ity Carrier L PIyime
圣■P型掺杂(I嫉):B、A、Ga、In
9■N型掺杂(V族):P、As、Sb
均为浅能级杂质
■常温下,非重掺,P型硅的空穴浓度等于
P型掺杂剂浓度;N型硅的电子浓度等于
N型掺杂剂浓度。
Minority Carrier Lifetime
三■P型硅的载流子绝大部分为空穴。空穴为多
数载流子( majority carrier,简称多子;电
子为少数载流子( minority carrier),简称少
三■N型硅的载流子绝大部分为电子。电子为多
子,空穴为少子。
Minority Carrier Lifetime
3.非平衡载流子
圣■平衡状态下,电子空穴对的产生和复合
率相等。电子和空穴浓度丌、p不变。
E
复合
E
Minority Carrier Lifetime
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