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7.1 红外热成像系统的构成
7.1.2红外热成像光学系统
红外热成像光学系统
热成像系统的光学系统
红外光学系统作为光学系统的一个类别,与其
它可见光光学系统相比,在光能接收、传递、成像
等光学概念上没有原则上的区别。但是,由于红外
光学系统工作波长在中、长波段红外区域,因此不
能使用普通的透可见光材料,而需要使用透中、长
波红外光波的单晶锗、单晶硅等特殊材料。
红外热成像系统对光学系统的要求
(1)红外辐射源的辐射波段位于1μm以上的不
可见区。普通光学玻璃对2.5μm以外的光波不透明
。而在所有可透红外波段的材料中,只有几种材
料具有必须的机械性能,并可获得一定的尺寸规
模,这大大限制了透镜系统在红外光学系统设计
中的应用,使反射式和折反射式光学系统占有比
较重要的地位;
红外热成像系统对光学系统的要求
(2)几乎所有的红外热成像系统都使用各种光
电探测器件接收信息。因此,相应光学系统的性
能、质量应以其和探测器匹配的灵敏度、信噪比
作为主要评定依据,而不是以光学系统的分辨率
为主。因为离散的探测器成像系统的分辨率受光
电探测器件像元尺寸的限制,因而相应地对光学
系统的要求有所降低;
红外热成像系统对光学系统的要求
(3)视场小、孔径大。红外测器的接收面积较小时(
如单元、多元探测器) ,红外光学系统的视场不太大,
故而可不考虑轴外像差的影响。此外,由于反射系统
没有色差,在多数情况下,对反射系统只要消球差和
满足正弦条件就可以。但红外成像系统要求有高的通
光能力,因此,大多数红外光学系统都采用大相对孔
径,即小F数的光学系统。一般情况下,由于加工工艺
等方面的限制,F数多以取2~3为宜;
红外热成像系统对光学系统的要求
(4) 红外热成像系统中使用各类扫描器时,
光机扫描器可以安置在成像系统之前,其尺寸
大,驱动功率消耗大,但对光学系统的成像质
量影响最小。随着焦平面阵列技术的发展,目
前凝视型红外热成像系统正在逐步取代扫描型
红外热像仪;
红外热成像系统对光学系统的要求
(5)常用红外波段的波长约为可见光的5~20
倍,因此,在系统光孔尺寸较小时,由于衍射极
限的影响,红外热成像系统的分辨率普遍较低。
也就是说,要得到高分辨率的红外热成像系统必
须有大的光学系统孔径,因而会使红外热成像系
统的重量加大,成本提高。
设计红外光学成像系统要遵循的原则
(1) 应对所工作的波段有良好的透过性能;
(2) 应具有尽可能大的相对孔径,以保证系统能有高的灵敏度;
(3) 应对噪声有较强的抑制能力,若用调制盘等作空间滤波器,就
需要使用集光元件:如场镜、浸没透镜与光锥等,以减小探测器尺
寸,提高信噪比;
(4) 结构和组成应有利于充分发挥探测器的效能,如合理利用光敏
面面积,保证高的光斑均匀性等;
(5) 系统和组成元件力求简单,以利于减少能量的损失;
(6) 在反射系统中,为保证较大的良好成像视场,往往需要引入各
种光机扫描器,因此需要考虑合适的空间布局。
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1、反射式光学系统
两种反射式红外光学系统的构成
从成像质量上来看,反射系统和其他传统光学系统相比,优势体现
在没有色差,因为它是通过反射镜成像的。但是,反射系统对其它的像
差的校正能力较弱,只能同时消除两种像差,如同时消除球差和彗差。
广泛使用反射式光学系统的有:辐射计、前视红外热成像仪、激光
雷达、大孔径望远镜以及导弹制导系统等。
2 、折射式光学系统
三片式的折射光学系统
折射式光学系统适于口径比较小、视场比较大、波段比较窄的光
学系统需求。目前诸如红外搜索/跟踪系统、光电转塔、红外吊舱、
红外导引头等,都有对较大空间进行方位/俯仰搜索的要求,尤其需
要小型化、轻量化的红外光学系统与之配套。通过采用折射系统三
次成像,可设计出相应的结构紧凑型的光学系统。
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3 、折反式光学系统
两种常用的红外折反系统结构
以球面反射镜为基础,加入适当的折射元件构成的光学系统。
为探测远距离的目标,红外光学系统应具有大口径、长焦距、高
分辨率的特点。相对于折射系统口径不能做
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