低阻四线测试原理.docxVIP

. 1、普通二线测试原理 通常的开短路测试方法即为普通二线测试， 如下图所示， 二线测试是目前普遍应用的一 种方案。 二线测试只有一个回路，所测得的阻抗为 R1+R2＋Rpcb，即所测得的阻抗为馈线电阻和 待测线路阻值之和，故无法精确测定被测 PCB 之低阻值。但因为开路测试的条件一般为 20Ω， 故馈线电阻影响不大，可以忽略不计。 二线测试的精度虽然不高，但是用来判断线路 的开短路已经能满足绝大部分的印制线路板的需要。 但仅适用于完全断线、 完全孔断之测试， 对于低阻值测试则无能为力。 2、低阻四线测试原理 开尔文连接方式 （或称四线测试方式）如下图所示， 开尔文连接有两个要求： 对于每个 测试点都有一条激励线和一条检测线， 二者严格分开， 各自构成独立回路； 同时要求检测线 必须接到一个有极高输入阻抗的测试回路上， 使流过检测线的电流极小， 近似为零。 激励线 即是电流供给回路， 检测线即是电压测定回路，电流、电压两回路各自独立。电流供给回路 两端子与电压测定回路两端子共计四端子，故称四线测试。 ;. . V≒I1 x Rpcb （因 I2 ( 小电流 ) 再乘上小电阻得到更小的压降），因电压表的内部阻抗 非常高（ MΩ 级），远远大于电压测定回路的馈线电阻 R3 和 R4（Ω 级），使得几乎全部的 电流流经过 Rpcb， 流经电压表的电流 I2 几乎为零，故所量到的电压也