01-第一章红外测温(段肖力).docx

第一章 红外成像检测 【本章描述】本章通过对带电设备红外成像检测诊断工作体系、带电设备缺陷红外诊断物 理基础、带电设备的缺陷分类、红外成像检测的基本原理与方法及典型带电设备缺陷红外成像 检测图谱介绍，掌握带电设备红外成像检测、诊断方法，熟练掌握DL / T 664《带电设备红 外诊断应用规范》的要求，熟悉带电设备红外诊断的工作要求、现场测试前的准备工作和相关 安全、技术措施、测试方法、技术要求及测试数据分析判断。 第一节带电设备过热缺陷原理 一、带电设备的主要缺陷模式及其原理 对于高压电气设备的诸多缺陷，如果从红外监测与诊断的角度来讲，大体上可以分为两大 类，即外部缺陷和内部缺陷。外部缺陷是指裸露在设备外部各部位发生的缺陷（如长期暴露在 大气环境中工作的裸露电气接头缺陷、设备表面污秽以及金属封装的设备箱体涡流过热等）。 这类缺陷因能直接暴露在红外监测仪器的视场范围内，红外检测时可很容易地获得直观的有关 缺陷信息。而内部缺陷则是指封闭在固体绝缘、油绝缘及设备壳体内部的各种缺陷。由于这类 缺陷部位受到绝缘介质或设备壳体的阻挡，所以通常难以像外部缺陷那样从设备外部直接获得 直观的有关缺陷信息。但是，根据各种电气设备的内部结构和运行工况，依据传热学理论，分 析传导、对流和辐射三种热交换型式沿不同传热路径的传热贡献（多数情况下只考虑金属导电 回路、绝缘油和气体介质等引起的传导和对流），并结合模拟试验、大量现场检测实例的统计 分析和解体验证，也能够获得电气设备内部缺陷在设备外部显现的温度分布规律或热（像）特 征，从而对设备内部缺陷的性质、部位及严重程度作出判断。 （一）电阻损耗增大缺陷 电力系统导电回路中的金属导体都存在相应的电阻，因此，当通过负荷电流时，必然有一 部分电能按焦耳一楞茨定律以热损耗的型式消耗掉。由此产生的发热功率为： P = kfl2R 式中P —发热功率（W）； Kf —附加损耗系数； I—通过的负荷电流（A）; R—截流导体的直流电阻值（ Ω）° Kf表明在交流电路中计及趋肤效应和邻近效应时使电阻增大的系数。当导体的直径、导电 系统和导磁率越大，以及通过的电流频率越高时，趋肤效应和邻近效应越显著，附加损耗系数 Kf 也就越大。 在理想情况下，假如导电回路中的各种连接件、接头或触头接触电阻低于相连接导体部分 的电阻，那么，连接部位的电阻损耗发热不会高于（甚至低于）相邻截流导体的发热。然而， 一旦某些连接件、接头或触头因连接不良，造成接触电阻增大，则该连接部位与周围导体部位 相比，就会产生更多的电阻损耗发热功率和更高的温升，从而造成局部过热。运行实践证明， 引起导电回路不良连接的主要原因有以下几种： （1）导电回路连接结构设计不合理； （2）安装施工不严格， 不符合工艺要求。 如连接件的电接触表面未除净氧化层及其他污垢， 焊 接质量差，紧固螺母没拧到位，未加弹簧垫圈，由于长期运行引起弹簧老化，或者由于连接件 内被连接的导线不等径等。 （3）导线在风力舞动下或者外界引起的振动等机械力作用下， 以及线路周期性加载及环境温度 的周期性变化，也会使连接部位周期热胀冷缩，导致连接松弛。 （4）长期裸露在大气环境中工作，因受到雨、雪、雾、有害气体及酸、碱、盐等腐蚀性尘埃的 污染和侵蚀，造成接头电接触表面氧化等。 （5）电气设备内部触头表面氧化， 多次分合后在触头间残存有机物或碳化物， 触头弹簧断裂或 退火老化， 或因触头调整不当， 或因分合时电弧的电腐蚀与等离子体蒸气对触头的磨损及烧蚀， 造成触头有效接触面积减小等。 （二）介质损耗（介损）增大缺陷 除导电回路以外，由固体或液体（如变压器油）电介质构成的绝缘结构也是许多高压电气 设备的重要组成部分。用作电器内部或截流导体附近电气绝缘的电介质材料，在交变电场作用 下引起的能量损耗，通常称为介质损耗，由此产生的损耗发热功率表示为： P= U ω Ctg δ 式中 P －发热功率（ W）； ω －交变电压的角频率； U—施加的电压（V）; C—介质的等值电容（F）; tg δ —绝缘介质损耗因数或介质损耗角正切值。 由于绝缘电介质因介质损耗产生的发热功率与所施加的工作电压平方成正比，而与负荷电流大小无关，因此，称祥和损耗发热为电压效应引起的发热。即使在正常状态下，电气设备内 部和导体周围的绝缘在交变电压作用下，也会有介质损耗发热。当绝缘介质的绝缘性能出现缺 陷时，会引起绝缘的介质损耗 （或绝缘介质损耗因数 tg δ ）增大，因此导致介质损耗功率增加， 设备运行温度升高。引起绝缘电介质材料介质损耗增大的主要原因包括： （ 1）固体绝缘材料材质不佳或老化。 许多高压电气设备中的导电体绝缘材料材质不佳， 或因长 期运行中由于高温作用与氧化作用而发生老化，甚至出现开裂或脱落，导致绝缘性能劣化，发