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- 2020-10-15 发布于广东
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Gulf Semiconductor Ltd. * 静电冲击-ESD 测 试 方 法 Gulf Semiconductor Ltd. * 静电冲击-ESD 能 力 标 准 * 上升 Gulf Semiconductor Ltd. * 顺向恢复电压与时间- VFRM/TFR 影响因素: Vfrm (1) 越高压的二极管的Vfrm越高 (2) 当温度越高时,其Vfrm越高 (3) 当电流密度增加时,其Vfrm也会增高 Tfr: (1) 当温度越高时,其Tfr也会增加,时间变慢 (2) 当电流密度增加时,其Tfr也会增高 (3)当电流斜率增快时,其Tfr会减少 Gulf Semiconductor Ltd. * 顺向恢复电压与时间- VFRM/TFR 1,高频开关电源开关整流中,影响功耗,产生热量; 2, 在电源输出整流中,影响输出功率; 3,部分特殊应用要求Vfrm,Tfr值上升; 4,替代SKY产品时Vfrm,Tfr下降 案例1: ASTEC, Boost diode 应用波形实例计算。 案例2: ASTEC, 选用FR202
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