实验一：逻辑门电路的逻辑功能及测试.pdfVIP

。 实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试 一．实验目的 1．掌握了解 TTL 系列、 CMOS系列外形及逻辑功能。 2．熟悉各种门电路参数的测试方法。 3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。 二、实验仪器及材料 a) 数电实验箱、万用表。 b)TTL 器件： 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1 片 74ls125 三态门 1 片 74ls04 反向器材 1 片 三．预习要求和思考题： 1．预习要求： 1）复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2 ）常用 TTL 门电路和 CMOS门电路的功能、特点。 3）三态门的功能特点。 4 ）熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 2．思考题 1）TTL 门电路和 CMOS门电路有什么区别？ 2 ）用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么？ 四．实验原理 1．本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2 ．门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间 存在一定的逻辑关系。 TTL 集成门电路的工作电压为“ 5V±10%”。本实验中使用的 TTL 集成门电路是双列直 插型的集成电路，其管脚识别方法：将 TTL 集成门电路正面（印有集成门电路型号标记） 正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“ 1”，按逆时针方 向数，依次为 1、2、 3、4 ············ 。如图 1— 1 所示。具体的各个管脚 的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图 1— 1 3 ．图 1— 2 分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。 精选资料，欢迎下载 。 4. 图 1－3 是为了理解 TTL 逻辑门电路多余端的处理方法。 5. 图 1－4 为三态门逻辑功能测试。 五 . 实验内容及步骤 选择实验用的集成电路， 按自己设计的实验接线图接好连线， 特别注意 Vcc 及 GND不能 连接错。线连接好后经检查无误方可通电实验。 1. TTL 门电路及 CMOS门电路的功能测试。 将 CMOS或门 CC4071,TTL 与非门 74LS00、和或非门 74LS02 分别按图 1-2 连线：输 入端Ａ、Ｂ接逻辑开关， 输入端Ｙ接发光二极管， 改变输入状态的高低电平，观察二极 管的亮灭，并将输出状态填入表 1-1 中： 表 1-1 输 入 输 出 Y1 输 出 Y2 输 出 Y3 A B CD4071 74LS00 74LS02 0 0 0 1 1 0 1 1 逻辑表达式 逻辑功能 2.TTL 门电路多余输入端的处理方法： 将74LS00和74LS02按图示 1-3连线后， A输入端分别接地、高电平、悬空、与 B端并 接，观察当 B端输入信号分别为高、低电平时，相应输出端的状态，并填表 1-2. 精选资料，欢迎下载 。 3.TTL 三态门逻辑功能测试 :