实验一金属箔式应变片性能实验.docxVIP

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  • 2020-11-09 发布于天津
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实验一金属箔式应变片性能实验 ——单臂、半桥、全桥电路性能比较 测控091 4037黄健华 一、 实验目的: .观察了解箔式应变片的结构及粘贴方式。 .测试应变梁形变的应变输出。 比较各种桥路的性能(灵敏度)。 二、 实验原理: 应变片是最常用的测力传感元件, 当用应变片测试时,应变片要牢固地粘贴在测试体表 面,当测件受力发生形变,应变片的敏感栅随同变形,其电阻值也随之发生相应的变化。通 过测量电路,转换成电信号输出显示。 电桥电路是最常见的非电量电测电路中的一种,当电桥平衡时,桥路对臂电阻乘积相 等,电桥输出为零,在桥臂四个电阻 Ri、R2、R3、R4中,电阻的相对变化率分别为 Ri/Ri、R2/R2、R3;R3、R4/R4,当使用一个应变片时, R R ;当二个应变片组 2 R 成差动状态工作,则有 R ;用四个应变片组成二个差动对工作,且 R 4 R R R2 R R4 R, R 。根据戴维南定理可以得出测试电桥的输出电压近似 R 等于1/4 ? E ?S R,电桥灵敏度Ku V/ R/R,于是对应于单臂、半桥、全桥的电压灵 敏度分别为1/4E、1/2E和E。由此可知,当E和电阻相对变化一定时,电桥及电压灵敏度与 各桥臂阻值的大小无关,单臂、半桥、全桥电路的灵敏度依次增大。 三、 实验所需部件: 直流稳压电源( 4V档)、电桥、差动放大器、金属箔式应变片

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