西电801半导体物理与器件物理基础考研真题及答案解析全(2005-2020优质最新).pdf

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2019 一、 填空 1. (1)泡利不相容原理 (2)E − E ≫ (3)一样的 0 2 − 2 − (4)简并半导体 (5) √ 1 ( 0 ) (6) √ 1 ( 0 ) 2 2 2. (7)强电离区 (8)过渡区 (9)高温本征激发区 √( )2 ( )2 (10)本征激发 (11)过渡区 (12)0 = + +4 2 3.(13)导带的有效状态密度 (14)温度 (15)半导体的有效质量 (16)小于 4.(17)周期性势场被破坏 (18)声学波散射 (ℏ1)3/2 1 (19)引起载流子散射的附加势场 (20)(0)1/2 ̅ (ℏ1) 0 5-9 B D C E B 二、 简答 1. 从深能级杂质和浅能级杂质考虑。 2. 教材67 页 3. ①略 3+ ∆p ② = − − + [参考尼曼器件第四版公式6.18] ③ 略 4. 略 5. 电子跃迁,吸收或者放出声子,伴随着能量变化,因此能量和准动量 发生变化。上能谷和下能谷曲线的曲率不同,因此有效质量发生变化。 区别:这种跃迁:在不同能谷之间。本征激发:在导带和价带之间。 三、 计算题 115.4 1. ① = 3 ,T = 51.6K +1 −3.68 2 15 −3 2 ( ) ② = 1.9 × 10 , = 3956 cm / V ∙ S , = 1.2 / 2. 电中性条件0 = + + 0 ①略 ②电中性条件: = 1.6555 × 1017−3 近似条件: = 6.555 × 1016−3 电中性条件: = [1 + 2 (∆) 0 ]

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