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材料结构分析试题?2（参考答案） 以滤掉?K??线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小?1新排列：?12?3?），?100），?200），??3? 以滤掉?K??线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小?1 新排列：?12?3?），?100），?200），??3?11），?121），?111），??2?10），?220），?130）， （ （ （ （ （ （ （ （ （ （030），（2?2?1），（110）。 答：它们的面间距从大到小按次序是：（100）、（110）、（111）、（200）、（?2?10）、 （121）、（220）、（2?2?1）、（030）、（130）、（?3?11）、（12?3?）。 1．实验中选择?X?射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以?Fe?为主要成?分 的样品，试选择合适的?X?射线管和合适的滤波片？ 答：实验中选择?X?射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使 用比样品中主元素的原子序数大?2~6（尤其是?2）的材料作靶材的?X?射线管。 选择滤波片的原则是?X?射线分析中，在?X?射线管与样品之间一个滤波片， β 或?2?的材料。 分析以铁为主的样品，应该选用?Co?或?Fe?靶的?X?射线管，它们的分别相应选 择?Fe?和?Mn?为滤波片。 2．下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重 ? ? ? ? ? ? ? ? 3．衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 答：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。衍射线 的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。 4．罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考 虑而得出的？ 答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍 射的晶粒大小对衍射强度的影响，罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对衍射 强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。 5．磁透镜的像差是怎样产生的??如何来消除和减少像差? 答：像差分为球差,像散,色差. 球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的?.?增大透镜的 激磁电流可减小球差. 像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的?.可以通过引入一强度和 方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿. 色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的?.?稳定加速电压 和透镜电流可减小色差. 6．别从原理、衍射特点及应用方面比较?X?射线衍射和透射电镜中的电子衍 射在材料结构分析中的异同点。 答：原理:?X?射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电 子散射波相互干涉形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射 波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即 形成衍射。 特点:?1）电子波的波长比?X?射线短得多 2）电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内 3）电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射 4）电子衍射束的强度较大，拍摄衍射花样时间短。 应用：硬?X?射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软?X?射线可用 于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析（确定微区的晶 体结构或晶体学性质） 7．子束入射固体样品表面会激发哪些信号??它们有哪些特点和用途? 答：主要有六种： 1)背散射电子:能量高；来自样品表面几百?nm?深度范围；其产额随原子序数增 大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。 2)二次电子:能量较低；来自表层?5—10nm?深度范围；对样品表面化状态十分敏 感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。 3)吸收电子:其衬度恰好和?SE?或?BE?信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度 互补。 吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析. 4)透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定?.可进行微区成 分分析。 5)特征?X?射线:?用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域 6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面?1—2nm?范围。它 适合做表面分析。 8．为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，并比较波谱仪和能谱 仪的优缺点。 答：波谱仪：用来检测?X?射线的特征波长的仪器 能谱仪：用来检测?X?射线的特征能量的仪器 优点:1）能谱仪探测?X?射线的效率高。 2）在同一时间对分析点内所有元素?X?射线光子的能量进行测定和计数，在 几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 3）结构简单，稳定性和重现性都很好 4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。