南京大学X射线荧光光谱分析实验报告.docxVIP

word 格式 荧光分析 一．实验目的 1 ．了解能量色散 X 荧光分析的原理、仪器构成和基本测量、分析方法。 ．验证莫塞莱定律，并从实验推出屏蔽常数。 3 ．研究对多道分析器的定标，以及利用 X 荧光分析测量位未知样品成分及相对含量的方法。 二．实验原理 以一定能量的光子、电子、原子、 粒子或其它离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击 出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放 出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征 X 射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使 该电子发射出来，即俄歇电子发射。测出特征 X 射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。 特征曲线 X 射线根据跃迁后电子所处能级可以分为 K , L, M 系等；根据电子跃迁前所在能级又 可分为 K , K , K , L , L 等不同谱线。特征 X 谱线的的能量为两壳层电子结合能之差。因此，所有 元素的 K , L 系特征 X 射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。 X 荧光分析中激发 X 射线的方 式一般有三种： （ 1）用质子、 α粒子等离子激发 （ 2）用电子激发； （ 3 ）用 X 射线或低能 射线激发。我们实验室采用 X 射线激发（ XIX 技术），用放射性同位 素作为激发源的 X 光管。 .. .. word 格式 XIX 技术中，入射