(HI-POTTester)高压测试机内校标准.doc

(HI-POT Tester) 高压测试机内校标准 校正仪器： NA 2. 校正项目： (a)ACW , DCW , IR , Grounding 测试 校正方法： 3.1 利 用 水 泥 电 阻 值 不 同 方 式 以 测 试 其 显 示 关 状 况 （ Show“P”(PASS)or Show“F”(FAIL) ） 校正环境要求 4.1 本校正作业必须在下列环境条件下实施 温度 23℃± 2℃、相对湿度 50%±10% 安全考虑与准备事项 5.1 安全考虑 5.1.1 执行校正前，必须熟读校正作业指导书及仪器使用说明书 5.1.2 检视所有仪器外观是否破损或不完整 5.1.3 检查连接导线是断线、破损、接触不良 5.1.4 确认待校件与校正仪器之电源电压选择器的设定，需与所用之电源电压相符， 才能启动仪器电源开关 5.1.5 非特别标明，否则初期所有仪器之输出电压电流， 应设定为零或置于 STBY位置 5.2 准备事项 5.2.1 校正仪器与待校件， 长时间停机再开机时， 请至少暖机 30 分钟，若于暖机时间过后关机又再开机，请至少等待关机时间两倍的暖机时间 ( 最长时间 30 分钟 ) ，若待校件有特别之暖机规定，则从其规定 5.2.2 将待校件之基本数据填入校正记录表 5.3 系统确认 5.3.1 确认标准件之校正状况 ( 包括追溯日期、有效日期 ) 5.3.2 校正进行前，先执行量测系统查核并确认处于系统管制范围内 5.3.3 以查核件进行查核时，如发现查核所得的值超过管制界限时，必须查明原因加 以排除，方可执行校正 仪器设定 : 6.1 ACW ( 交流耐压测试 ) Voltage= 56 V →Hi-limit= 40 mA →Lo-limit= 0 mA →Ramptime= 0.1 sec →Dwell time= 3 sec → Frequency=X Hz → ARC sense=5 → Scanner CH= 0 →Offset = X m Ω → Connect=ON 6.2 DCW ( 直流耐压测试 ) Voltage= 10 V → Hi-limit= 5000 uA → Lo-limit= 0.0 uA → Ramp time=1 sec → Dwell time= 3 sec → Frequency=X Hz → ARC sense=5 → Charge-LO= 0 uA → Ramp-HI=OFF →ARCsense=5 →Scanner set CH=0 →Offset =X mΩ →Connect=ON 6.3 INULATION ( 绝缘电阻测试 ) Voltage= 500 V → Charge-LO=X → Hi-limit= OFFM Ω → Low-limit= 1 MΩ → Delay time= 3 sec →Scanner set CH= 0 →Connect=OFF 6.4 GROUNDING 接(地电阻测试 ) Current= 3A → Voltage= 8 V → Hi-limit= 200 m Ω → Lo-limit= OFF Ω → Dwell time= 3 sec →Frequency=X Hz → Scanner CH=0 →Offset= 0 mΩ →Connect=OFF 7. 测量方式 7.1 选水泥电阻， 0.1 Ω 、50Ω 、1410KΩ电阻（误差值± 5%）各 1 个 7.2 将 HI-POT机测试仪的测试试线 (RETURN H.V)夹于治具 Hi-pot 冶具铜柱两端 , 用手压下 TEST(绿色 ) 按钮执行 HI-POT 测试 , 7.3 使用 1410KΩ水泥电阻测试， HI-POT仪器屏幕显示 PPP( 测 ACW ,DCW and IR) 如图一： 7.4 使用 50Ω水泥电阻测试， HI-POT仪器屏幕显示 FFF( 测 ACW ,DCW and IR) 如图二 7.5 用 0.1 Ω水泥电阻测， HI-POT 仪器屏幕显示 P( 测 Grounding ) 特性允收标准 8.1 HI-POT 高压测试机使用 1410Ω 号 0.1 Ω测试显“ PPP”与“ FFF”, 表示仪器正常 8.2 HI-POT 高压测试机使用 50Ω测试显“ PPP”, 表示仪器正常 8.3 相反 HI-POT 高压测试机在上述测试中若与其相反，表示仪器不正常 内校不合格时处理方式 9.1 若生产中发生不良，应产即停止使用，并通知品管单位处理 9.2 若生产完成，需将已经生产完成之产品重新测试 10. 校正管制标准依 ISO-17025 执行 .