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- 2020-11-22 发布于山西
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* 材料中电子在电场作用下运动速度的大小常用载流子迁移率来表征,即在单位电场强度作用下,载流子的平均速度值。即 所以 而 比较得出电阻率?与霍尔系数RH和载流子迁移率?之间的关系: 或 * 结论:① 如果是P型半导体,其载流子是空穴,若空穴浓度为p,同理可得 ② 霍尔电压UH与材料的性质有关。 由上式可知?、?大,霍尔系数就大。金属?虽然很大,但?很小,不宜做成霍尔元件;绝缘材料的? 很高,但?很小,也不能做霍尔元件。故霍尔传感器中的霍尔元件都是半导体材料制成的。 * ④ 霍尔电压UH与控制电流及磁场强度有关。 ③ 霍尔电压UH与元件的尺寸有关。 根据上式,d愈小,KH愈大,霍尔灵敏度愈高,所以霍尔元件的厚度都比较薄,薄膜霍尔元件的厚度只有1?m左右。但d过小,会使元件的输入、输出电阻增加。 * 二、霍尔元件材料 电阻率、载流子迁移率、霍尔系数 1.锗(Ge),N型及P型均可。 2.硅(Si).N型及P型均可。 3.砷化铟(InAs)和锑化铟(InSb),这两种材料的特性很相似。 * 5.2.2 霍尔元件的构造及测量电路 基于霍尔效应工作的半导体器件称为霍尔元件,霍尔元件多采用N型半导体材料。霍尔元件越薄(d 越小),kH 就越大。霍尔元件由霍尔片、四根引线和壳体组成,如图所示。 * 一、构 造 * 霍尔片是一块
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