基本品管统计重点学习的知识.docVIP

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基本品管统计知识( Ca/Cp/Cpk 概念介绍) Edited by Alex Chen on Aug. 11 th,2002 统计的基本原料是? 数据 何谓『统计』? 何谓『有意义的情报』? 至少应包括:『集中趋势 + 离中趋势 + 含盖在特定范围内的机率』 一、 什么是平均值 X ? 集中趋势 二、 什么是标准差σ? 离中趋势 (标准差与全距有关) 三、 平均值 ±n 倍标准差 数据分布范围 数据如何分布? 规格描述:规格中心( SC),规格界限 (USL, LSL) 规格界限分类: 双边规格:同时存在上下规格界限 (USL, LSL) ;单边界限:只有规格上限 (USL) 或只有规格下限 (LSL) 时 平均值 X 和规格中心值 SC 的比较 (偏离规格中心) 规格上下界限范围和数据分布的比较 数据分布全数落在规格界限内 部份数据落在一边或两边规格界限外 平均值 ± 3 倍标准差为何 ? 此为现有统计品管理论的基本依据,其信赖区间达到 99.73% 何为制程能力 (Cp) : 制程精密度, 其值越高表示制程实际值间的离散程度越小, 亦即表示制程稳定而变异小 (离 中趋势,与σ有关) 。可用于比较公差(规格上限 -规格下限)与制程分布的比值, (亦即, 当公差范围内能纳入愈多的σ个数,则此制程表现愈好) ,其本身是一种制程固有的(已决 定的)特性值,代表一种潜在的能力 其公式为: Cp  USL LSL 6  ;按: 6σ就是 2*(3 σ ),亦即以 3σ制程为分界点,以评估制 程能力的好坏。 何为制程准确度 (Ca) ? 制程准确度, 代表制程平均值偏离规格中心值之程度。 若其值越小, 表示制程平均值越接近 规格中心值,亦即质量越接近规格要求之水平(集中趋势,与 X 有关),制程平均值愈偏离 规格中心值,所造成的不良率将愈大) ( X SC) USL LSL 其公式为: Ca LSL) ,其中 SC 2 (USL  , Ca 的值将介于 0 ~ 1 2 何为综合制程能力指数 (Cpk) ? 理想的制程应同时要求较高的精密度与准确度,其计算公式有两种: 公式一: 双边公差时: Cpk=Cp*(1-Ca) , 其中, Cp  USL LSL 6 Ca =0(不偏时),Cpk=Cp (有最大值) Ca =1(制程平均值 =规格上限或规格下限时) ,Cpk=0(其值最小有最大值) 当 Ca 1(制程平均值超出规格上限或规格下限时) , Cpk 已经变得没有意义 了。 单边公差时:由于没有规格中心值,故 Ca =N/A ,故定义 Cpk=Cp 公式二: Cpu (USL X ) Cpu ( X LSL) 双边公差时: Cpk=min( 3 , 3 ) 两者取小值, 当制程平均值与规格中心完全一致时, USL LSL 6σ直接相除即可) Cpk=Cpu=Cpl = Cp (直接将公差与 6 单边公差时:由于没有规格中心值,故 Ca =N/A ,故定义 Cpk=Cp 一个 sigma(σ )所在的位置 3σ制程与 6σ制程之比较 标准差的两种估计值: ?R / d 2 - 从管制图分析得出的每个分组全距 R 图的平均值( R )以及管制图表中得到的 d2 值(如下所示) ,计算其值: ? R / d 2 ?R / d 2 ?s - 总的标准差,可用计算器计算出来(一般在计算器上可以标为 s 或是σ n-1 ) n ( Xi X ) 2 s ?s n 1 i 1 (按:以图解法显示一个 sigma(σ) 所在的位置 ) 制程能力评估之用途? 一、 提供分析数据给设计部门,使其能尽量利用目前的制程能力,以设计新产品,二、 决定一项新设备或翻修之设备是否能满足要求, 三、 利用机械之能力,安排适当工作,使其能得到最佳应用,四、 选择适当的作业员、材料、与作业方法, 五、 用作建立机器之调整界限, 六、 作为接受客户订单时的衡量与参考。 制程能力的评估时机? 初期 -- 新产品量产前 重大的产品或制程变更导入前量产阶段 --重大的产品或制程变更导入前 制程能力的评估的对象? 所有的管制特性( Special Characteristic) 在管制计划 /QC 工程表中所定义者 QS9000 中的应用的两种方法: 制程能力指数: Cpk=min( Cpu (USL X ) , Cpl ( X LSL) ) 3 ?R/ d 2 3 ?R/ d 2 初期制程能力指数: Cpk=min( Cpu (USL X ) , Cpl 3 ?S 制程能力判定准则? Ppk ≧ 1.67, Cpk ≧1.33 计算 Cpk 或 Ppk 至少需要多少的数据?  ( X

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