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浅谈激光粒度仪的应用研究 摘要：本文首先简要的介绍了激光粒度仪检测的主要方法、构造、原理， 其次 阐述了其发展的历程和相关应用，并结合自己的实际情况讲解了如何利用它来为 我的科研服务，最后展望了其发展趋势和应用前景。 关键词：激光粒度仪功能应用 在科学研究和工农业生产中的固体原料和制品 ，很多都是以粉体形态存在 的，颗粒粒度分布对这些产品的质量和性能起着重要的作用。 例如，催化剂的粒 度对催化效果有着重要的影响；水泥的粒度影响凝结时间及最终的强度； 各种矿 物填料的粒度影响着制品的质量与性能；涂料的粒度会影响涂饰效果和表面光 泽；药物的粒度影响口感、吸收率和疗效等等。因此，在粉体加工与应用领域中， 相应的颗粒粒度测量就显得相当重要。有效地测量与控制粉体的颗粒粒度及其分 布，对提高产品质量、降低能源消耗、控制环境污染、保护人类的健康等具有重 要意义。 颗粒粒度测量的方法很多， 激光散射法是目前用途最广泛的一种。 这种方 法具有测量范围宽（通常为0. 1~3500叫m）、粒度分析快、再现性较好、可实现 在线测量等特点，对科学研究和生产过程中的粒度控制起着重要的作用。此外 ， 激光粒度仪可以得出多种粒度数据，如体积平均粒径、比表面积、区间粒度分布 和累计粒度分布等。 现阶段粒度分析在材料工程、食品工程、制药工程、石油化工、国防工业等 领域具有重要作用。由于传统的粒度测量方法操作繁琐， 耗时较长，已经越来越 不能适应现代工业和科研快速反应的需求。现代新兴科技的发展使激光和微电子 技术应用到粒度测量领域，完全克服了传统方法所带来的弊端，在大大减轻劳动 强度的同时，加快了样品的检测速度，提高了检测结果的质量。近年来，有关粒 度分布的测试技术和测试方法有很多， 而激光粒度分析方法，因测量速度快、精 度高及准确度好等特点被人们普遍认同。 一激光粒度检测的主要方法、构造和原理 根据测量要求不同，目前得到广泛应用的各种颗粒粒径测量仪器的种类很 多，相应的颗粒测量方法也有很多。按其基本工作原理可以分为直接法和间接法 两大类。直接法是根据颗粒的几何尺寸测定， 如筛分法和显微镜法；而根据某种 物理规律测定颗粒在某些因素影响下所具有的某一物理量， 再换算成具有相同数 值的同一物理量的球体的直径，用它代表粒子的大小，称为间接法，如沉降法、 电感应法（Coulter法）、光散射法。它们各有自己的特点和应用范围。其中光散射 法作为一代新颖的测量方法和测量仪器，以其显著特点已在颗粒测量领域及国际 市场上占据了主导地位。（下图为激光粒度仪的简单装置图） 图1激光粒度仪的简单装置图 由激光器（一般为He-Ne激光器或半导体激光器）发出的光束。经空间滤波 器和扩束透镜后，得到了一个平行单色光束，该光束照射到由分散系统传输过来的 颗粒样品后发生散射现像。研究表明，散射光的角度和颗粒直径成反比，散射光 强随角度的增加呈对数衰减。这些散射光经傅立叶透镜后成像在排列有多环光电 探测器的焦平面上。多环探测器上的中央探测器用来测定样品的体积浓度 ，外围 探测器用来接收散射光的能量并转换成电信号,而散射光的能量分布与颗粒粒 度分布直接相关。通过接收和测量散射光的能量分布就可以反演得出颗粒的粒度 的分布特征。 当光线照射到颗粒上是会发生衍射、 散射。其衍射、散射光强与粒子的大小 有关。观测其强度，可应用 Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论求得粒度分布。 一般地，光散射现象可以用 Maxwell电磁方程式严密解出的 Mie散射理论说明。 但是实际使用起来过丁复杂，为了求得实际的光强，可根据入射波长 入和粒径r 的关系，即：r＜入时，Rayleigh散射理论；r＞入时，Fraunhofer衍射理论。在使 用上述理论时，应考虑到光的波长和粒子径的关系，在不同的领域使用不同的理 论。通过 Fraunhofer衍射和严格 Mie散射的数值计算结果的对比指出， Fraunhofer衍射适用的条件为：仪器测量下限大丁 3m,或被测颗粒是吸收型且 粒径大丁 1 m的。当仪器测量下限小丁 1 m,或者用测量下限小丁 3^ m的仪 器去测量远大丁 1 [1 m的颗粒时，都应该采用Mie理论。另外，颗粒的折射率对 测量结果也有较大的影响。对吸收性颗粒而言,Fraunhofer衍射结果同Mie散射 结果基本一致。而对丁非吸收性颗粒，两者就有一定的偏差。当颗粒的相对折射 率的虚部 "0. 03或 护3时，必须用Mie理论来计算系数矩阵。 二激光粒度仪的发展历程及相关应用 动态光散射(Dynamic light scattering简称DLS)测量技术的首次应用始丁 1964年的Cummins等人。1976年，第一台仪器出现在市场，当时只能是供专家 使用。1985年，相对较低成本的测量仪器投入市场。