材料分析方法PPT课件.docx

本教材主要内容 本教材主要内容 PAGE PAGE # 本教材主要内容 本教材主要内容 PAGE PAGE # Ay —* iLri 第二版 绪论 第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础 第二章X射线衍射方向 第三章X射线衍射强度 第四章多晶体分析方法 第五章物相分析及点阵参数精确测定 第六章宏观残余应力的测定 第七章多晶体织构的测定 本教材主要内容 本教材主要内容 本教材主要内容 本教材主要内容 第二篇材料电子显微分析 第八章电子光学基础 第九章透射电子显微镜 第十章电子衍射 第H■—章晶体薄膜衍衬成像分析 第十二章高分辨透射电子显微术 第十三章扫描电子显微镜 第十四章电子背散射衍射分析技术 第十五章电子探针显微分析 第十六章其他显微分析方法 PAGE PAGE # 一、材料的组织结构与性能 1 ?组织结构与性能的关系 微观组织结构卫産性能 不同种类的材料性质不同， 同种材料经不同工艺处理后获得不同的组织，性能不同 2.微观组织结构控制 成分、结构、加工和性能是材料科学与工程的四个基本要素, 成分和结构从根本上决定了材料的性能，对材料的成分和结构 进行精确表征是材料研究基本要求, 也是实现性能控制前提。 化学分析法、显微组织结构的内容 化学分析法 1 ?显微化学成分 0.87.000.00.00能谱仪?定点分析0.0F.91.00.005 0.8 7.00 0.0 0.00 能谱仪?定点分析 0.0 F.9 1.0 0.00 5 3J33马氏体时效钢化学成分 (wt%)  X射线衍射分析?XRD□? Mo o MoSi■ Si + SiC Mo.Si X射线衍射分析?XRD □ ? Mo o MoSi ■ Si + SiC Mo.Si 20 30 40 50 60 70 80 2e, deg 图4?10 Ai?气氛中按MoSi2的化学计量比Si?Mo混合物加热到不同目标温度下反应产物XRD相分析 绪 二、显微组织结构的内容 2.晶体结构与晶体缺陷 碳纤纟隹周围反应层■■■■SiC微晶 透射电镜形貌及衍射（结构分机） PAGE PAGE # PAGE PAGE # 绪论 绪论 绪论 绪论 :、显微组织结构的内容 3.晶粒大小与形态 4?相的成分、结构、形态、含量及分布 4?相的成分、结构、形态、含量及分布 电子背散射衍射 ?■相分布及晶粒嬉 镰基合金中第二相（GdNis）粒子在基体中的分布 绪论 绪论 PAGE PAGE # 绪论 绪论 PAGE PAGE # 、显微组织结构的内容 界面 位向关系 夹杂物 透射电镜■位向分内应力 透射电镜■位向分 绪论 绪论 绪论 绪论 三、传统分析方法的局限性 1 ?光学显微镜（0M）…?表面形态观察 分辨本领低（约200nm） ＞放大倍率低（约1000倍） 不能做材料内部的组织结构和微区成分分析10 不能做材料内部的组织结构和微区成分分析 10 绪论 绪论 PAGE PAGE # 绪论 绪论 PAGE PAGE # 2.化学分析 给出平均成分，可以达到很高的精度； 实际上，材料中的成分分布存在不均匀性， 导致微观组织结构的不均匀性， 进而造成材料微观区域性能的不均匀性, 对材料的宏观性能产生影响。 不能给出所含元素的分布 四、x射线衍射与电子显微镜 ■LX射线衍射(XRD, X-Ray Diffraction) XRD是利用X射线在晶体中的衍射现象来分析材料的 相组成、晶体结构、晶格参数、晶体缺陷（位错等）、 不同结构相的含量以及内应力的方法。 20 25 30 35 40 45 50 55 60Two Theta (degree)图2错英石为主晶相的 20 25 30 35 40 45 50 55 60 Two Theta (degree) 图2错英石为主晶相的X射线谱 t-ZrO2 ZrSiO 4. 绪论 绪论 绪论 绪论 四、X射线衍射与电子显微镜 X射线衍射(XRD5 X-Ray Diffraction) 局限性： 不能把形貌观察与晶体结构分析同位地结合(统计信息) X射线聚焦困难，分析的最小区域为毫米数量级 电子显微镜(EM，Electron Microscope) 利用高能电子束作光源，用磁场作透镜制造的具有高分辨 率和高放大倍数的电子光学显微镜 透射电子显微镜(TEM, Transmission Electron Microscope) 扫描电子显微镜(SEIVL Scanning Electron Microscope) 电子探针显微分析(EPMA, Electron probe Micro-Analysis) A透射电镜?TEM 采用透过薄膜样品的电子束成像, 显示样品